低压CMOS运放的可复用设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·模拟集成电路的重要性 | 第8-10页 |
| ·论文的主要内容和章节安排 | 第10页 |
| ·小结 | 第10-11页 |
| 第二章 IP 复用技术 | 第11-21页 |
| ·IP复用方法学 | 第11-12页 |
| ·IP复用技术的发展历程 | 第12-13页 |
| ·IP可复用设计的基本原则与流程 | 第13-16页 |
| ·数字与模拟IP复用设计 | 第16-18页 |
| ·数字IP复用设计 | 第16页 |
| ·模拟IP复用设计 | 第16-18页 |
| ·VHDL－AMS的论述 | 第18-20页 |
| ·小结 | 第20-21页 |
| 第三章 运算放大器设计考虑 | 第21-31页 |
| ·运算放大器概述 | 第21-22页 |
| ·运算放大器输入级 | 第22-26页 |
| ·基本差分输入级 | 第22-24页 |
| ·折叠式共源共栅差分输入级 | 第24-25页 |
| ·RailtoRail差分输入级 | 第25-26页 |
| ·运算放大器的输出级 | 第26-28页 |
| ·共源输出级 | 第26-27页 |
| ·源极跟随输出级 | 第27页 |
| ·推挽输出级 | 第27-28页 |
| ·运放系统的稳定性 | 第28-30页 |
| ·负反馈系统 | 第28-29页 |
| ·米勒电容补偿 | 第29-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 第四章 低压运算放大器的可复用设计 | 第31-53页 |
| ·低电压设计考虑 | 第31-33页 |
| ·低电压的应用需求 | 第31页 |
| ·低电压的设计技术 | 第31-33页 |
| ·运放可复用设计考虑 | 第33-35页 |
| ·运放整体电路设计 | 第35-40页 |
| ·偏置电路设计 | 第35-37页 |
| ·差分输入级设计 | 第37-38页 |
| ·输出级设计 | 第38-39页 |
| ·运放整体电路 | 第39-40页 |
| ·运放整体电路的仿真 | 第40-51页 |
| ·开环增益仿真 | 第40-42页 |
| ·电源抑制比仿真 | 第42-44页 |
| ·共模输入范围仿真 | 第44-46页 |
| ·共模抑制比仿真 | 第46-49页 |
| ·运放建立时间仿真 | 第49-51页 |
| ·小结 | 第51-53页 |
| 第五章 低压运放版图的可复用设计与实现 | 第53-65页 |
| ·版图可复用设计的思考 | 第53-54页 |
| ·版图设计 | 第54-59页 |
| ·版图设计流程 | 第54-55页 |
| ·版图匹配设计 | 第55-57页 |
| ·模拟电路版图设计思考 | 第57-59页 |
| ·低压运放电路版图设计 | 第59-64页 |
| ·差分输入级 | 第59-60页 |
| ·ESD 保护版图设计 | 第60-61页 |
| ·低压运放版图的实现 | 第61-63页 |
| ·低压运放的工程应用 | 第63-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 总结 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 读研期间的研究成果 | 第71-72页 |
