| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-30页 |
| ·课题研究背景 | 第9-11页 |
| ·振动与冲击对电子设备产生的危害 | 第9-10页 |
| ·电子产品跌落试验的必要性 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·非线性有限元问题的分类 | 第13-19页 |
| ·材料非线性 | 第14-16页 |
| ·几何非线性 | 第16-18页 |
| ·边界非线性 | 第18-19页 |
| ·接触和碰撞理论 | 第19-28页 |
| ·接触界面条件 | 第20-25页 |
| ·接触问题的求解方案 | 第25-27页 |
| ·接触问题有限元方程的求解方法 | 第27-28页 |
| ·论文的研究内容与意义 | 第28-30页 |
| 第二章 手机翻盖跌落试验和结构改进 | 第30-45页 |
| ·手机翻盖结构介绍 | 第30-32页 |
| ·手机普通翻盖结构介绍 | 第30页 |
| ·手机透明翻盖结构介绍 | 第30-32页 |
| ·手机跌落试验标准 | 第32-37页 |
| ·自由跌落环境试验标准简介 | 第32-33页 |
| ·手机跌落试验工况 | 第33页 |
| ·手机跌落试验方法 | 第33-37页 |
| ·结构设计改善前手机透明翻盖跌落试验 | 第37-38页 |
| ·设计改善后的手机翻盖结构 | 第38-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第三章 翻盖结构抗跌落性数值模拟的有限元方法 | 第45-59页 |
| ·有限元模型的建立原则 | 第46-47页 |
| ·有限元模型的建立过程 | 第47-58页 |
| ·几何模型的简化和建立 | 第47-49页 |
| ·有限元网格的划分和单元类型的选择 | 第49-55页 |
| ·材料属性定义 | 第55页 |
| ·连接关系的模拟和简化 | 第55-57页 |
| ·边界条件的确定 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第四章 手机翻盖跌落碰撞的数值模拟和试验 | 第59-75页 |
| ·结构设计改善前的手机翻盖仿真分析 | 第59-66页 |
| ·结构设计改善后的手机翻盖仿真分析 | 第66-71页 |
| ·结构设计改善后手机跌落试验结果 | 第71-73页 |
| ·结构设计改善后手机跌落仿真结果与试验结果对比与分析 | 第73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 第五章 总结与展望 | 第75-78页 |
| ·全文研究工作总结 | 第75-76页 |
| ·论文的主要创新点 | 第76页 |
| ·今后研究工作展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第84-86页 |