基于ARM的电路板测试系统研究与设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 自动测试系统的发展 | 第9-11页 |
| 1.2.2 电路板测试技术的发展 | 第11-12页 |
| 1.3 本论文研究方法与内容 | 第12-13页 |
| 第2章 测试方法研究及系统设计 | 第13-21页 |
| 2.1 目前主要的电路测试技术 | 第13-17页 |
| 2.1.1 AOI测试 | 第13-14页 |
| 2.1.2 ICT测试 | 第14-15页 |
| 2.1.3 BST测试 | 第15-16页 |
| 2.1.4 FCT测试 | 第16-17页 |
| 2.2 测试方法选择 | 第17-18页 |
| 2.3 系统设计 | 第18-21页 |
| 2.3.1 系统概述 | 第18-19页 |
| 2.3.2 测量模块功能 | 第19-20页 |
| 2.3.3 控制模块功能 | 第20页 |
| 2.3.4 背板功能 | 第20-21页 |
| 第3章 硬件设计 | 第21-51页 |
| 3.1 硬件设计概述 | 第21-22页 |
| 3.2 MCU电路设计 | 第22-26页 |
| 3.2.1 MCU芯片介绍 | 第22-23页 |
| 3.2.2 供电方案 | 第23-24页 |
| 3.2.3 时钟电路 | 第24-25页 |
| 3.2.4 复位电路 | 第25-26页 |
| 3.2.5 调试接口 | 第26页 |
| 3.3 输入信号选择电路设计 | 第26-29页 |
| 3.3.1 解决方案 | 第26页 |
| 3.3.2 信号筛选电路详细设计 | 第26-28页 |
| 3.3.3 信号筛选控制电路详细设计 | 第28-29页 |
| 3.4 测试模式选择电路设计 | 第29-30页 |
| 3.4.1 解决方案 | 第29页 |
| 3.4.2 测试模式选择电路详细设计 | 第29-30页 |
| 3.5 接地阻抗测试电路设计 | 第30-36页 |
| 3.5.1 解决方案 | 第30-31页 |
| 3.5.2 电阻测试电路详细设计 | 第31-36页 |
| 3.6 电压测试电路设计 | 第36-40页 |
| 3.6.1 解决方案 | 第36页 |
| 3.6.2 电压测试电路详细设计 | 第36-40页 |
| 3.7 通信电路设计 | 第40-42页 |
| 3.7.1 解决方案 | 第40-41页 |
| 3.7.2 通信模块电路详细设计 | 第41-42页 |
| 3.8 电源电路设计 | 第42-46页 |
| 3.8.1 解决方案 | 第42-43页 |
| 3.8.2 电源电路详细设计 | 第43-46页 |
| 3.9 电路板设计 | 第46-51页 |
| 3.9.1 PCB基本参数设计 | 第46-47页 |
| 3.9.2 PCB布局 | 第47-50页 |
| 3.9.3 关键元器件功能介绍 | 第50-51页 |
| 第4章 软件设计 | 第51-64页 |
| 4.1 软件总体流程 | 第51-52页 |
| 4.2 系统初始化和自检 | 第52-53页 |
| 4.3 控制模块软件设计 | 第53-56页 |
| 4.4 测量模块软件设计 | 第56-59页 |
| 4.5 阻抗测试 | 第59-60页 |
| 4.6 电压测试 | 第60-62页 |
| 4.7 时钟信号测试 | 第62-64页 |
| 第5章 系统调试及测试结果 | 第64-78页 |
| 5.1 测试模块单板调试 | 第64-75页 |
| 5.1.1 电源电路调试 | 第65-67页 |
| 5.1.2 时钟信号测试电路调试 | 第67-69页 |
| 5.1.3 阻抗测试电路调试 | 第69-71页 |
| 5.1.4 电压测试电路调试 | 第71-73页 |
| 5.1.5 通信电路调试 | 第73-74页 |
| 5.1.6 单板调试总结 | 第74-75页 |
| 5.2 系统测试结果 | 第75-78页 |
| 第6章 结论 | 第78-79页 |
| 6.1 对本文工作的总结 | 第78页 |
| 6.2 对下一步工作的展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
