| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-24页 |
| 1.1 引言 | 第8页 |
| 1.2 磁隧道结 | 第8-14页 |
| 1.2.1 磁隧道结的原理 | 第9页 |
| 1.2.2 磁隧道结的发展和展望 | 第9-10页 |
| 1.2.3 磁隧道结的物理效应 | 第10-12页 |
| 1.2.4 磁隧道结器件的应用 | 第12-14页 |
| 1.3 微磁学模拟及计算方法 | 第14-18页 |
| 1.3.1 磁性材料中的能量描述 | 第14-16页 |
| 1.3.2 微磁学理论 | 第16-18页 |
| 1.3.3 数值计算方法 | 第18页 |
| 1.4 本论文的主要研究内容 | 第18-20页 |
| 参考文献 | 第20-24页 |
| 第二章 实验仪器和实验方法简介 | 第24-35页 |
| 2.1 实验仪器介绍 | 第24-32页 |
| 2.1.1 球差矫正透射电子显微镜 | 第24-28页 |
| 2.1.2 扫描电子显微镜 | 第28-29页 |
| 2.1.3 聚焦离子束电镜 | 第29-31页 |
| 2.1.4 振动样品磁强计(VSM) | 第31-32页 |
| 2.2 实验方法 | 第32-33页 |
| 2.2.1 磁控溅射 | 第32页 |
| 2.2.2 QPt介绍 | 第32-33页 |
| 参考文献 | 第33-35页 |
| 第三章 电镜原位磁输运测量仪的设计和制造 | 第35-45页 |
| 3.1 引言 | 第35页 |
| 3.2 纳米操纵器原位磁输运测量仪的设计思路 | 第35-36页 |
| 3.3 纳米操纵器磁输运测量仪各组成部分的设计和制造 | 第36-39页 |
| 3.3.1 纳米操纵器设计和制造 | 第37-38页 |
| 3.3.2 磁化样品台的设计和制造 | 第38-39页 |
| 3.4 磁输运测量仪的组装和测试 | 第39-42页 |
| 3.4.1 纳米操纵器磁输运测量仪运动性能的测试 | 第39-42页 |
| 3.5 结论 | 第42页 |
| 参考文献 | 第42-45页 |
| 第四章 形状调控的Ni_(75)Fe_(25)薄膜不同单元模型 | 第45-58页 |
| 4.1 引言 | 第45页 |
| 4.2 Ni_(75)Fe_(25)薄膜不同形貌模型单元的制备和表征 | 第45-47页 |
| 4.3 Zigzag形状的Ni_(75)Fe_(25)薄膜单元的表征 | 第47-50页 |
| 4.4 多边形单元模型的Ni_(75)Fe_(25)薄膜单元的表征 | 第50-53页 |
| 4.5 理论分析和结论 | 第53-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 第五章 Ni_(75)Fe_(25)薄膜不同单元模型的电镜原位磁化研究 | 第58-70页 |
| 5.1 Zigzag形状的Ni_(75)Fe_(25)薄膜单元的微磁学模拟 | 第59-61页 |
| 5.2 多边形的Ni_(75)Fe_(25)薄膜单元的微磁学模拟 | 第61-63页 |
| 5.3 Lorentz-TEM原位加磁场 | 第63-66页 |
| 5.4 理论分析和结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 第六章 总结与展望 | 第70-71页 |
| 6.1 总结 | 第70页 |
| 6.2 展望 | 第70-71页 |
| 在学期间研究成果 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
