| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第10-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-23页 |
| 1.1 论文背景及研究意义 | 第15-16页 |
| 1.2 相关领域的研究现状 | 第16-20页 |
| 1.2.1 结构热载荷下的响应及寿命研究现状 | 第16-19页 |
| 1.2.2 振动作用下的结构响应分析及寿命计算现状 | 第19页 |
| 1.2.3 热与振动联合作用下的结构疲劳分析研究现状 | 第19-20页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第20-23页 |
| 第二章 结构热分析理论及仿真 | 第23-39页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 热弹性力学基础 | 第23-26页 |
| 2.2.1 热应力概述 | 第23页 |
| 2.2.2 热弹性力学的基本方程 | 第23-24页 |
| 2.2.3 有限元基本思想与分析步骤 | 第24-25页 |
| 2.2.4 热弹性应力的有限元求解 | 第25-26页 |
| 2.3 锡铅合金(Sn63Pb37)的本构模型与热载荷下疲劳分析 | 第26-28页 |
| 2.4 实例验证 | 第28-37页 |
| 2.5 本章小结 | 第37-39页 |
| 第三章 结构高斯和超高斯振动疲劳寿命分析 | 第39-59页 |
| 3.1 引言 | 第39页 |
| 3.2 随机振动理论 | 第39-41页 |
| 3.2.1 随机过程的数字特征 | 第39-40页 |
| 3.2.2 高斯随机振动频域响应 | 第40-41页 |
| 3.3 超高斯随机载荷分析 | 第41-43页 |
| 3.3.1 常用超高斯统计参数 | 第41-42页 |
| 3.3.2 零均值对称超高斯概率密度函数 | 第42-43页 |
| 3.4 超高斯振动的疲劳损伤估计 | 第43-49页 |
| 3.4.1 高斯随机振动疲劳 | 第43-45页 |
| 3.4.2 超高斯时域信号的生成 | 第45-48页 |
| 3.4.3 超高斯随机振动疲劳计算 | 第48-49页 |
| 3.5 实例验证 | 第49-58页 |
| 3.5.1 高斯疲劳寿命验证 | 第49-54页 |
| 3.5.2 超高斯疲劳寿命验证 | 第54-58页 |
| 3.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 第四章 热振环境下电源控制电路板寿命预测 | 第59-73页 |
| 4.1 引言 | 第59页 |
| 4.2 电源控制电路板的有限元模型 | 第59-63页 |
| 4.2.1 电源控制电路板三维模型的建立 | 第59-62页 |
| 4.2.2 电源控制电路板的网格划分和边界条件 | 第62-63页 |
| 4.3 电源控制电路板的热应力分析和寿命估计 | 第63-65页 |
| 4.4 电源控制电路板的动力学仿真分析 | 第65-72页 |
| 4.4.1 电源控制电路板的动力学分析 | 第65-66页 |
| 4.4.2 随机振动下的电源控制电路板的疲劳分析 | 第66-71页 |
| 4.4.3 耦合寿命计算 | 第71-72页 |
| 4.5 本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 5.1 总结 | 第73页 |
| 5.2 展望 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 作者简介 | 第81-82页 |
