模拟电路故障特征提取及极限学习机的研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-14页 |
| 1.1 研究的背景和意义 | 第7页 |
| 1.2 模拟电路故障诊断的主要研究内容 | 第7-8页 |
| 1.2.1 模拟电路故障分类 | 第7-8页 |
| 1.2.2 模拟电路故障诊断方法分类 | 第8页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第8-11页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第10-11页 |
| 1.4 本文主要研究内容及结构安排 | 第11-14页 |
| 1.4.1 本文主要研究内容 | 第11-12页 |
| 1.4.2 本文结构安排 | 第12-14页 |
| 第2章 基于小波包分解和因子分析的故障特征提取 | 第14-31页 |
| 2.1 模拟电路故障特征提取 | 第14-19页 |
| 2.1.1 小波变换 | 第14-16页 |
| 2.1.2 提取能量值 | 第16-17页 |
| 2.1.3 因子分析 | 第17-19页 |
| 2.2 极限学习机 | 第19-22页 |
| 2.2.1 极限学习机概述 | 第19-20页 |
| 2.2.2 极限学习机的分类原理 | 第20-21页 |
| 2.2.3 极限学习机的优势 | 第21-22页 |
| 2.3 诊断实例一 | 第22-27页 |
| 2.3.1 诊断电路 | 第22-23页 |
| 2.3.2 故障特征提取 | 第23-25页 |
| 2.3.3 模拟电路故障诊断 | 第25-27页 |
| 2.4 诊断实例二 | 第27-30页 |
| 2.5 章节小结 | 第30-31页 |
| 第3章 基于倒谱和相关分析法的故障特征提取 | 第31-41页 |
| 3.1 倒谱变换 | 第31-32页 |
| 3.1.1 倒谱变换的定义 | 第31页 |
| 3.1.2 倒谱变换的性质 | 第31-32页 |
| 3.2 小波分解 | 第32-33页 |
| 3.3 相关分析法 | 第33-34页 |
| 3.3.1 相关系数的定义 | 第33页 |
| 3.3.2 利用相关系数构造故障特征 | 第33-34页 |
| 3.4 诊断实例一 | 第34-37页 |
| 3.4.1 诊断电路及故障设置 | 第34页 |
| 3.4.2 故障特征提取 | 第34-36页 |
| 3.4.3 模拟电路故障诊断 | 第36-37页 |
| 3.5 诊断实例二 | 第37-39页 |
| 3.6 章节小结 | 第39-41页 |
| 第4章 利用思维进化算法对极限学习机进行优化 | 第41-51页 |
| 4.1 极限学习机的局限性分析 | 第41页 |
| 4.2 思维进化算法概述 | 第41-45页 |
| 4.2.1 思维进化算法简介 | 第41-43页 |
| 4.2.2 思维进化算法的基本概念 | 第43-44页 |
| 4.2.3 思维进化算法的基本思路 | 第44-45页 |
| 4.3 使用思维进化算法优化极限学习机 | 第45-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 模拟电路故障诊断系统设计 | 第51-60页 |
| 5.1 GUI简介 | 第51-52页 |
| 5.2 模拟电路故障诊断系统设计 | 第52-57页 |
| 5.2.1 GUI设计方法介绍 | 第52-53页 |
| 5.2.2 模拟电路故障诊断系统功能介绍 | 第53-57页 |
| 5.3 实际电路测试实验 | 第57-59页 |
| 5.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 第6章 结论与展望 | 第60-62页 |
| 6.1 全文总结 | 第60-61页 |
| 6.2 进一步的工作 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与项目 | 第67页 |
