基于故障字典技术的模拟电路故障诊断系统设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究的背景与意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.3 本文主要内容及结构安排 | 第10-13页 |
| 第2章 模拟电路故障字典技术测点选择问题 | 第13-18页 |
| 2.1 整数编码表 | 第13-16页 |
| 2.1.1 故障电压采集 | 第13-15页 |
| 2.1.2 模糊分组 | 第15页 |
| 2.1.3 整数编码表 | 第15-16页 |
| 2.2 故障字典技术测点选择问题 | 第16-17页 |
| 2.3 本章小节 | 第17-18页 |
| 第3章 模拟电路故障字典技术测点选择研究 | 第18-33页 |
| 3.1 典型的测点选择方案 | 第18-22页 |
| 3.1.1 基于信息熵的方法 | 第19页 |
| 3.1.2 基于图搜索的方法 | 第19页 |
| 3.1.3 遗传算法 | 第19-20页 |
| 3.1.4 粒子群算法 | 第20-21页 |
| 3.1.5 电路仿真实验 | 第21-22页 |
| 3.1.6 统计实验 | 第22页 |
| 3.2 人工免疫克隆选择算法 | 第22-26页 |
| 3.2.1 初始抗体群 | 第22-23页 |
| 3.2.2 抗体亲和度计算 | 第23页 |
| 3.2.3 克隆复制 | 第23页 |
| 3.2.4 抗体变异 | 第23-24页 |
| 3.2.5 抗体记忆 | 第24页 |
| 3.2.6 算法实现步奏 | 第24-25页 |
| 3.2.7 算法收敛性 | 第25-26页 |
| 3.3 仿真试验和分析 | 第26-31页 |
| 3.3.1 电路实验 | 第26-31页 |
| 3.3.2 统计实验 | 第31页 |
| 3.4 本章小结 | 第31-33页 |
| 第4章 故障诊断系统硬件设计 | 第33-41页 |
| 4.1 系统硬件框图 | 第33页 |
| 4.2 电源电路 | 第33-34页 |
| 4.3 加法电路 | 第34-35页 |
| 4.4 复位和操作BUTTON | 第35页 |
| 4.5 SRAM | 第35-36页 |
| 4.6 TFT-LCD | 第36-38页 |
| 4.7 系统PCB和待诊断电路设计 | 第38-40页 |
| 4.8 本章小结 | 第40-41页 |
| 第5章 故障诊断系统软件设计与测试 | 第41-65页 |
| 5.1 嵌入式实时操作系统UC/OS-Ⅱ | 第41-46页 |
| 5.1.1 UC/OS-Ⅱ任务管理 | 第42-44页 |
| 5.1.2 任务的调度 | 第44-45页 |
| 5.1.3 UC/OS-Ⅱ时间管理 | 第45-46页 |
| 5.1.4 故障诊断系统在UC/OS-Ⅱ中的设置 | 第46页 |
| 5.2 STEMWIN系统界面设计 | 第46-53页 |
| 5.2.1 初始界面 | 第47-49页 |
| 5.2.2 电路选择界面 | 第49页 |
| 5.2.3 波形和结果显示界面 | 第49-53页 |
| 5.3 FFT在故障电压信号获取中的应用 | 第53-59页 |
| 5.3.1 离散傅立叶变换DFT | 第53-55页 |
| 5.3.2 快速傅立叶变换FFT | 第55-56页 |
| 5.3.3 FFT实验 | 第56-59页 |
| 5.4 相关系数在模拟电路故障诊断中的应用 | 第59-60页 |
| 5.5 故障诊断系统测试 | 第60-64页 |
| 5.6 本章小结 | 第64-65页 |
| 第6章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 6.1 总结 | 第65-66页 |
| 6.2 展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第72-73页 |
| 附录 | 第73-86页 |
| 一、PCB原理图 | 第73页 |
| 二、MC/OS-Ⅱ部分代码 | 第73-78页 |
| 三、FFT部分代码 | 第78-79页 |
| 四、STEMWIN部分代码 | 第79-86页 |
