摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第13-28页 |
1.1 课题背景及研究意义 | 第13-15页 |
1.2 自准直技术的研究现状 | 第15-19页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第15-18页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第18-19页 |
1.3 微角度测量技术的研究现状 | 第19-22页 |
1.3.1 基于圆分度法的微角度测量技术 | 第20-21页 |
1.3.2 基于环形激光器的微角度测量技术 | 第21页 |
1.3.3 基于微位移测量的正弦/正切法微角度测量技术 | 第21-22页 |
1.4 光束偏转跟踪技术的研究现状 | 第22-25页 |
1.4.1 光束方向偏转技术 | 第22-24页 |
1.4.2 瞄准技术 | 第24-25页 |
1.5 本领域存在的重要科学问题和关键技术问题 | 第25-26页 |
1.6 课题主要研究内容 | 第26-28页 |
第2章 基于光束偏转跟踪的长工作距大量程自准直方法与模型分析 | 第28-48页 |
2.1 引言 | 第28页 |
2.2 自准直中工作距对微角度测量的影响 | 第28-34页 |
2.2.1 点源-面阵探测器型 | 第29-30页 |
2.2.2 十字狭缝/微孔-面阵探测器型 | 第30-32页 |
2.2.3 平行狭缝-线阵探测器型 | 第32-33页 |
2.2.4 平面编码器-面阵探测器型 | 第33-34页 |
2.3 基于光束偏转跟踪的长工作距与大量程自准直方法 | 第34-39页 |
2.3.1 理论模型 | 第35-38页 |
2.3.2 工作距对微角度测量的影响 | 第38-39页 |
2.4 自准直系统工作距离与量程的关系总结 | 第39-41页 |
2.5 光束偏转跟踪系统设计 | 第41-47页 |
2.5.1 二维光束偏转单元设计 | 第42-44页 |
2.5.2 光束偏转跟踪控制系统模型 | 第44-47页 |
2.6 本章小结 | 第47-48页 |
第3章 大量程高分辨力二维微角度测量技术研究 | 第48-66页 |
3.1 引言 | 第48-49页 |
3.2 基于电容传感器的正切法微角度测量技术研究 | 第49-60页 |
3.2.1 工作原理及理论模型 | 第49-52页 |
3.2.2 基于蒙特卡洛法的微角度测量误差仿真 | 第52-60页 |
3.3 基于激光干涉仪的正切法微角度测量技术研究 | 第60-65页 |
3.3.1 工作原理及理论模型 | 第60-62页 |
3.3.2 基于蒙特卡洛法的微角度测量误差仿真 | 第62-65页 |
3.4 本章小结 | 第65-66页 |
第4章 长工作距中空气湍流对自准直的影响量分析 | 第66-79页 |
4.1 引言 | 第66页 |
4.2 空气折射率结构常数及空气湍流功率谱模型 | 第66-68页 |
4.3 空气湍流相位屏模型 | 第68-72页 |
4.3.1 Zernike多项式法 | 第68-69页 |
4.3.2 谱反演法 | 第69-72页 |
4.4 空气湍流对长工作距自准直微角度测量的影响 | 第72-78页 |
4.4.1 相位屏参数选取 | 第72-73页 |
4.4.2 自准直中空气湍流的影响量仿真与实验结果 | 第73-78页 |
4.5 本章小结 | 第78-79页 |
第5章 实验结果与分析 | 第79-99页 |
5.1 引言 | 第79页 |
5.2 基于电容传感器的二维微角度测量单元性能测试 | 第79-85页 |
5.2.1 原理误差测试 | 第79-81页 |
5.2.2 二维微角度测量单元分辨力测试 | 第81-82页 |
5.2.3 二维微角度测量结果对比 | 第82-85页 |
5.3 自准直光束偏转跟踪单元性能测试 | 第85-90页 |
5.3.1 光束偏转量检测单元的分辨力测试 | 第85-87页 |
5.3.2 光束偏转单元的角位移灵敏度与定位重复性测试 | 第87-90页 |
5.4 长工作距大量程自准直系统总体性能测试 | 第90-98页 |
5.4.1 角度分辨力测试 | 第91-93页 |
5.4.2 长工作距下量程与角度测量偏差测试 | 第93-98页 |
5.5 本章小结 | 第98-99页 |
结论 | 第99-101页 |
参考文献 | 第101-110页 |
攻读博士学位期间发表的论文及其他成果 | 第110-113页 |
致谢 | 第113-114页 |
个人简历 | 第114页 |