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ZrTe5的拓扑物态

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第1章 绪论第11-35页
    1.1 拓扑相变第13-16页
    1.2 整数量子霍尔效应第16-18页
        1.2.1 整数量子霍尔效应第16页
        1.2.2 TKNN拓扑不变量第16-17页
        1.2.3 边界态第17-18页
    1.3 拓扑绝缘体第18-22页
        1.3.1 Haldane模型第18-19页
        1.3.2 量子自旋霍尔绝缘体第19-20页
        1.3.3 3D拓扑绝缘体第20-22页
    1.4 拓扑半金属第22-30页
        1.4.1 3D Weyl/Dirac半金属第22-23页
        1.4.2 3D Weyl/Dirac半金属的能带结构第23-26页
        1.4.3 手性磁效应第26-27页
        1.4.4 费米弧第27-30页
    1.5 ZrTe_5的能带结构第30-35页
        1.5.1 能带结构理论计算第30-31页
        1.5.2 能带结构实验测量第31-35页
第2章 实验方法和原理第35-49页
    2.1 费米面的测量第36-38页
    2.2 微波共振腔第38-41页
        2.2.1 半导体中的光吸收第38-39页
        2.2.2 电子自旋共振第39页
        2.2.3 回旋共振第39-40页
        2.2.4 等离子体共振第40-41页
    2.3 Dirac电子的输运性质第41-42页
        2.3.1 正常磁阻第41页
        2.3.2 弱反局域化效应第41-42页
        2.3.3 线性磁阻第42页
    2.4 Dirac电子的磁性质第42-44页
        2.4.1 泡利顺磁性第42-43页
        2.4.2 朗道抗磁性第43页
        2.4.3 Dirac电子的磁性第43-44页
    2.5 纳米薄片器件制备第44-49页
第3章 碘输运法ZrTe_5的输运和磁性质第49-57页
    3.1 晶体生长和样品表征第50-51页
    3.2 输运和磁性质第51-54页
    3.3 费米面特性第54-56页
    小结第56-57页
第4章 ZrTe_5的尺寸效应第57-66页
    4.1 纳米薄片的制备第58页
    4.2 不同厚度纳米薄片的输运特性第58-62页
    4.3 双能带模型分析第62-65页
    小结第65-66页
第5章 助熔剂法ZrTe_5的拓扑量子态第66-80页
    5.1 样品生长和表征第67-69页
    5.2 输运性质第69-72页
    5.3 磁性质第72-74页
    5.4 二维表面态测量第74-79页
    小结第79-80页
第6章 ZrTe_5的反常微波共振第80-88页
    6.1 实验装置第81页
    6.2 微波共振随温度的变化第81-82页
    6.3 微波共振随样品尺寸的变化第82-85页
    6.4 微波共振随磁场方向的变化第85页
    6.5 微波共振的可能机制第85-86页
    6.6 低场ESR信号第86-87页
    小结第87-88页
参考文献第88-97页
致谢第97-98页
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果第98页

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