基于频谱的软件缺陷定位方法的研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 引言 | 第9-14页 |
1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
1.3 研究内容及创新 | 第11-12页 |
1.4 论文结构及其安排 | 第12-14页 |
第二章 缺陷定位技术 | 第14-23页 |
2.1 软件缺陷 | 第14-15页 |
2.2 早期软件缺陷定位技术 | 第15-16页 |
2.3 基于频谱的缺陷定位技术 | 第16-23页 |
2.3.1 相关定义 | 第16-18页 |
2.3.2 流程模型 | 第18-19页 |
2.3.3 实例详解 | 第19-20页 |
2.3.4 现有研究成果总结 | 第20-23页 |
第三章 基于频谱的测试用例约简策略研究 | 第23-36页 |
3.1 研究背景概述 | 第23-24页 |
3.2 相关定义 | 第24-26页 |
3.3 约简策略应用 | 第26-27页 |
3.4 实验检验 | 第27-35页 |
3.4.1 实验对象 | 第27-28页 |
3.4.2 度量标准 | 第28-29页 |
3.4.3 实验配置 | 第29页 |
3.4.4 实验结果与分析 | 第29-34页 |
3.4.5 实验总结 | 第34-35页 |
3.5 本章小结 | 第35-36页 |
第四章 基于频谱的增量式缺陷定位 | 第36-48页 |
4.1 研究背景概述 | 第36-38页 |
4.2 增量式方法 | 第38页 |
4.3 信息量 | 第38-40页 |
4.3.1 可疑度参数分析 | 第38-39页 |
4.3.2 信息量 | 第39-40页 |
4.4 增量迭代算法 | 第40-43页 |
4.4.1 流程模型 | 第40-41页 |
4.4.2 算法解析 | 第41-43页 |
4.5 实验检验 | 第43-47页 |
4.5.1 实验对象 | 第43页 |
4.5.2 度量标准 | 第43-44页 |
4.5.3 实验配置 | 第44-45页 |
4.5.4 实验结果与分析 | 第45-47页 |
4.5.5 实验总结 | 第47页 |
4.6 本章小结 | 第47-48页 |
第五章 总结与展望 | 第48-50页 |
5.1 总结 | 第48-49页 |
5.2 展望 | 第49-50页 |
参考文献 | 第50-52页 |
附录1 攻读硕士学位期间申请的专利 | 第52-53页 |
致谢 | 第53页 |