| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 SAR ADC国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 本文的主要工作及创新点 | 第13-14页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第14-15页 |
| 第二章 ADC的基本理论 | 第15-24页 |
| 2.1 模数转换器基本原理 | 第15-16页 |
| 2.2 ADC主要性能参数 | 第16-17页 |
| 2.3 ADC的基本结构简介 | 第17-23页 |
| 2.3.1 快闪型ADC(Flash ADC) | 第17页 |
| 2.3.2 两步式ADC(Two-step ADC) | 第17-18页 |
| 2.3.3 流水线型ADC(Pipelined ADC) | 第18-21页 |
| 2.3.4 逐次逼近型ADC(SAR ADC) | 第21-23页 |
| 2.4 混合结构ADC | 第23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 时域量化的分析与设计 | 第24-45页 |
| 3.1 时域量化 | 第24-25页 |
| 3.2 电压时间转换器（Voltage-to-Time Converter） | 第25-28页 |
| 3.2.1 延迟线型VTC | 第25-26页 |
| 3.2.2 压控振荡器型VTC | 第26页 |
| 3.2.3 脉宽调制型VTC | 第26-28页 |
| 3.3 时间数字转换器（Time-to-Digital Converter） | 第28-31页 |
| 3.3.1 计数器型TDC | 第29页 |
| 3.3.2 延迟线型TDC | 第29-30页 |
| 3.3.3 游标尺链延迟线型TDC | 第30-31页 |
| 3.4 时间量化电路分析与设计 | 第31-43页 |
| 3.4.1 电压时间转换器电路设计 | 第34-36页 |
| 3.4.2 时间数字转换器电路设计 | 第36-40页 |
| 3.4.3 编码电路设计 | 第40-43页 |
| 3.5 电压域Flash ADC与时域Flash ADC对比 | 第43-44页 |
| 3.6 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 主要关键技术和电路设计 | 第45-66页 |
| 4.1 基于时域量化的SAR ADC系统结构 | 第45-47页 |
| 4.2 DAC电容阵列 | 第47-52页 |
| 4.2.1 上极板采样DAC电容阵列 | 第48-49页 |
| 4.2.2 电容分裂DAC电容阵列工作原理 | 第49-52页 |
| 4.3 采样开关设计 | 第52-57页 |
| 4.3.1 采样保持电路工作原理 | 第52-53页 |
| 4.3.2 采样保持电路非理想因素 | 第53-56页 |
| 4.3.3 本文采样保持电路分析与设计 | 第56-57页 |
| 4.4 比较器电路设计 | 第57-61页 |
| 4.4.1 钟控比较器工作原理分析 | 第57-58页 |
| 4.4.2 钟控比较器非理想因素 | 第58-61页 |
| 4.5 逐次逼近寄存器 | 第61-64页 |
| 4.5.1 传统逐次逼近寄存器结构 | 第61-62页 |
| 4.5.2 新型逐次逼近寄存器结构 | 第62-64页 |
| 4.6 时序电路 | 第64-65页 |
| 4.7 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 电路仿真结果 | 第66-75页 |
| 5.1 关键电路仿真结果及分析 | 第66-73页 |
| 5.1.1 电压时间转换器仿真结果 | 第66-67页 |
| 5.1.2 时间数字转换器仿真结果 | 第67-71页 |
| 5.1.3 栅压自举开关的仿真结果 | 第71-72页 |
| 5.1.4 新型逐次逼近寄存器仿真结果 | 第72-73页 |
| 5.2 整体电路仿真结果及分析 | 第73-74页 |
| 5.3 本章小结 | 第74-75页 |
| 第六章 结论 | 第75-77页 |
| 6.1 本文的主要工作和贡献 | 第75-76页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第82-83页 |
