平板探测器数据采集及成像性能测试方法研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第8-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 平板探测器在X射线检测领域的发展 | 第10页 |
| 1.2.2 平板探测器成像性能测试方法的研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 主要研究内容及结构安排 | 第12-14页 |
| 第2章 DR成像系统的组成及工作原理 | 第14-23页 |
| 2.1 DR成像系统的组成 | 第14-16页 |
| 2.2 非晶硅平板探测器的构造和成像原理 | 第16-19页 |
| 2.3 非晶硅平板探测器的工作方式 | 第19-23页 |
| 2.3.1 平板探测器的信号触发方式 | 第19-20页 |
| 2.3.2 同步触发模式的选择 | 第20页 |
| 2.3.3 数据采集模式的选择 | 第20-23页 |
| 第3章 非晶硅平板探测器的校正及随机噪声的消除 | 第23-41页 |
| 3.1 探测器成像时的噪声来源 | 第23-24页 |
| 3.2 暗场校正 | 第24-26页 |
| 3.3 增益校正 | 第26-27页 |
| 3.4 坏点校正 | 第27-31页 |
| 3.4.1 坏点的分类 | 第27-29页 |
| 3.4.2 坏点位置图的生成及校正 | 第29-31页 |
| 3.5 延迟效应的测量及余晖校正 | 第31-36页 |
| 3.5.1 延迟效应的测量 | 第31-33页 |
| 3.5.2 余晖校正 | 第33-36页 |
| 3.6 DR图像随机噪声的消除 | 第36-37页 |
| 3.7 校正图像的质量评价 | 第37-41页 |
| 3.7.1 均方误差和信噪比 | 第38页 |
| 3.7.2 对比度和对比噪声比 | 第38-39页 |
| 3.7.3 平均梯度 | 第39页 |
| 3.7.4 铝蜂窝板DR图像的校正 | 第39-41页 |
| 第4章 非晶硅平板探测器成像性能的研究 | 第41-60页 |
| 4.1 基本空间分辨率 | 第41-43页 |
| 4.2 对比灵敏度 | 第43-45页 |
| 4.3 调制传递函数(MTF) | 第45-47页 |
| 4.4 噪声功率谱(NPS) | 第47-54页 |
| 4.5 量子探测效率(DQE) | 第54-57页 |
| 4.6 动态范围 | 第57页 |
| 4.7 响应特性曲线 | 第57-60页 |
| 第5章 DR成像系统采集软件的研究 | 第60-71页 |
| 5.1 采集软件总体设计 | 第60-63页 |
| 5.1.1 软件的开发环境 | 第60页 |
| 5.1.2 软件的基本功能及结构 | 第60-62页 |
| 5.1.3 软件模块的接口函数 | 第62-63页 |
| 5.2 软件的主要模块设计 | 第63-68页 |
| 5.2.1 初始化模块的设计 | 第63-65页 |
| 5.2.2 采集模块的设计 | 第65-67页 |
| 5.2.3 文件操作模块的设计 | 第67-68页 |
| 5.3 软件的实现及运行演示 | 第68-71页 |
| 第6章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 6.1 总结 | 第71-72页 |
| 6.2 展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 发表论文情况 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
