| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 引言 | 第9-11页 |
| 1 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 论文主要工作和研究内容 | 第14-18页 |
| 2 TD-LTE 系统 | 第18-24页 |
| 2.1 TD-LTE 系统概述 | 第18-19页 |
| 2.2 OFDM 技术 | 第19-22页 |
| 2.3 OFDM 信号峰均比 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 功率放大器非线性及行为模型 | 第24-36页 |
| 3.1 功率放大器非线性特性 | 第24-27页 |
| 3.1.1 谐波失真 | 第24-25页 |
| 3.1.2 互调失真 | 第25页 |
| 3.1.3 非线性幅度和相位失真 | 第25-27页 |
| 3.2 非线性失真参数 | 第27-29页 |
| 3.3 功率放大器模型 | 第29-34页 |
| 3.3.1 无记忆功率放大器模型 | 第29-30页 |
| 3.3.2 有记忆功率放大器模型 | 第30-34页 |
| 3.4 非线性失真对 TD-LTE 系统的影响 | 第34-35页 |
| 3.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 4 自适应数字预失真技术研究 | 第36-55页 |
| 4.1 预失真技术原理 | 第36-37页 |
| 4.2 时延估计与调整 | 第37-42页 |
| 4.3 数字预失真方案 | 第42-54页 |
| 4.3.1 查找表预失真技术 | 第43-45页 |
| 4.3.2 记忆多项式预失真技术 | 第45-51页 |
| 4.3.3 改进型 Hammerstein 预失真 | 第51-52页 |
| 4.3.4 预失真仿真验证 | 第52-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 5 TD-LTE 系统自适应数字预失真系统设计 | 第55-82页 |
| 5.1 FPGA 设计方法 | 第55-56页 |
| 5.2 数字预失真系统结构 | 第56-57页 |
| 5.3 硬件模块介绍 | 第57-58页 |
| 5.4 数字下变频设计 | 第58-60页 |
| 5.5 基于 NIOS II 的数据采集和存储模块设计 | 第60-63页 |
| 5.6 LUT 预失真实现 | 第63-65页 |
| 5.6.1 LUT 预失真器实现 | 第63-65页 |
| 5.6.2 LUT 参数提取算法实现 | 第65页 |
| 5.7 记忆多项式预失真实现 | 第65-81页 |
| 5.7.1 MP 预失真器实现 | 第65-68页 |
| 5.7.2 自适应算法实现 | 第68-81页 |
| 5.8 本章小结 | 第81-82页 |
| 6 预失真测试平台 | 第82-88页 |
| 6.1 测试平台搭建 | 第82-83页 |
| 6.2 测试结果及分析 | 第83-87页 |
| 6.3 本章小结 | 第87-88页 |
| 7 结论与展望 | 第88-90页 |
| 7.1 论文工作总结 | 第88-89页 |
| 7.2 工作展望 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-94页 |
| 在学研究成果 | 第94-95页 |
| 致谢 | 第95页 |