| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 引言 | 第11-13页 |
| 1 绪论 | 第13-21页 |
| 1.1 Se-Te 系统硫系玻璃 | 第13-15页 |
| 1.1.1 概述 | 第13页 |
| 1.1.2 Se-Te 硫系玻璃的研究历程 | 第13-15页 |
| 1.2 红外硫系光纤传感器 | 第15-18页 |
| 1.2.1 红外光纤发展历程 | 第15-16页 |
| 1.2.2 红外硫系光纤传感器的研究历程 | 第16-18页 |
| 1.3 课题的提出和研究内容 | 第18-21页 |
| 2 基础理论 | 第21-32页 |
| 2.1 硫系玻璃基础理论 | 第21-25页 |
| 2.1.1 玻璃的形成与通性 | 第21页 |
| 2.1.2 玻璃的结构模型 | 第21-22页 |
| 2.1.3 玻璃的热学特性及化学稳定性 | 第22-23页 |
| 2.1.4 光学带隙 | 第23-24页 |
| 2.1.5 光学特性及红外截止边理论 | 第24-25页 |
| 2.1.6 平均配位数 | 第25页 |
| 2.2 硫系光纤基础理论 | 第25-27页 |
| 2.2.1 光纤导光理论 | 第25-26页 |
| 2.2.2 光纤损耗 | 第26-27页 |
| 2.3 红外硫系光纤传感基础理论 | 第27-32页 |
| 2.3.1 光纤隐失波光谱法的发展和历史背景 | 第27页 |
| 2.3.2 光纤隐失波光谱法原理 | 第27-28页 |
| 2.3.3 锥形光纤导光理论 | 第28-32页 |
| 3 实验 | 第32-38页 |
| 3.1 玻璃样品的制备 | 第32-33页 |
| 3.2 玻璃的测试 | 第33-35页 |
| 3.3 硫系光纤的制备及测试 | 第35页 |
| 3.3.1 硫系光纤制备 | 第35页 |
| 3.3.2 光纤透过光谱测试 | 第35页 |
| 3.4 锥形光纤制备方法 | 第35-38页 |
| 3.4.1 熔融拉锥法 | 第36页 |
| 3.4.2 化学腐蚀法 | 第36页 |
| 3.4.3 光致流变法 | 第36-37页 |
| 3.4.4 研磨法 | 第37-38页 |
| 4 Ge-Se-Te-Sn 结构及光学性能研究 | 第38-51页 |
| 4.1 引言 | 第38页 |
| 4.2 Ge_3Se_5Te_2Sn_x硫系玻璃性能研究 | 第38-44页 |
| 4.2.1 玻璃的 XRD 分析 | 第38-39页 |
| 4.2.2 玻璃的热稳定性 | 第39-40页 |
| 4.2.3 可见-近红外透过光谱及光学带隙 | 第40页 |
| 4.2.4 傅里叶红外透过光谱 | 第40-41页 |
| 4.2.5 玻璃的网络平均配位数 | 第41-42页 |
| 4.2.6 拉曼光谱 | 第42-44页 |
| 4.3 [(GeSe_2)(SnSe_2)_0.5]_(100-x)Te_x硫系玻璃性能研究 | 第44-50页 |
| 4.3.1 玻璃的 XRD 分析 | 第44-45页 |
| 4.3.2 玻璃的热稳定性 | 第45-46页 |
| 4.3.3 可见-近红外吸收光谱和光学带隙 | 第46-48页 |
| 4.3.4 红外透过光谱分析 | 第48-49页 |
| 4.3.5 拉曼光谱分析 | 第49-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 5 锗锑硒硫系拉锥光纤制备 | 第51-59页 |
| 5.1 引言 | 第51页 |
| 5.2 预制棒制备和拉丝实验 | 第51-53页 |
| 5.2.1 预制棒制备过程 | 第51-52页 |
| 5.2.2 光纤拉丝实验 | 第52-53页 |
| 5.3 光纤锥形化实验 | 第53-56页 |
| 5.3.1 熔融拉锥法 | 第53-55页 |
| 5.3.2 化学法 | 第55-56页 |
| 5.4 光纤透过光谱 | 第56-58页 |
| 5.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 6 结束语 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 在学研究成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |