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面向可重构分组密码算法中Sbox的多端口高速存储器设计

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-17页
    1.1 研究背景第9-12页
        1.1.1 置换盒S-box特征介绍第9-11页
        1.1.2 半导体存储器的概述第11-12页
    1.2 国内外研究现状第12-14页
    1.3 论文研究内容及意义第14页
    1.4 论文组织结构第14-17页
第二章 SRAM关键电路模块设计综述第17-37页
    2.1 SRAM基本结构及工作原理第17-19页
    2.2 传统SRAM关键电路设计综述第19-32页
        2.2.1 存储单元设计综述第19-25页
        2.2.2 译码单元设计综述第25-29页
        2.2.3 灵敏放大器设计综述第29-32页
    2.3 多端口存储器电路设计综述第32-36页
    2.4 本章小结第36-37页
第三章 多端口存储单元及阵列设计第37-57页
    3.1 SRAM多端口存储单元主要设计指标第37-39页
        3.1.1 存储单元主要设计指标第37-39页
        3.1.2 总体设计方向第39页
    3.2 多端口存储单元的设计挑战第39-42页
        3.2.1 工艺参数变化增加对存储单元的影响第40页
        3.2.2 端口数增加对于版图结构的影响第40-42页
    3.3 四读一写多端口存储单元设计第42-52页
        3.3.1 多端口存储单元结构设计第42-45页
        3.3.2 多端口存储单元面积评估第45-48页
        3.3.3 多端口存储单元读操作评估第48-52页
    3.4 多端口存储器阵列设计第52-55页
    3.5 本章小结第55-57页
第四章 译码器电路设计与实现第57-67页
    4.1 基本译码电路分析第57-59页
    4.2 改进型动态译码电路设计第59-64页
        4.2.1 单级NOR动态译码电路第60-61页
        4.2.2 多级NOR动态译码电路第61-62页
        4.2.3 改进多级NOR动态译码电路第62-64页
    4.3 仿真及结果比较第64页
    4.4 本章小结第64-67页
第五章 版图设计及后仿真分析第67-73页
    5.1 多端口存储电路版图设计第67-68页
    5.2 多端口存储器电路后仿真分析第68-70页
        5.2.1 读写功能分析第69页
        5.2.2 读操作速度分析第69-70页
        5.2.3 存储电路性能分析第70页
    5.3 多端口存储器电路应用第70-72页
    5.4 本章小结第72-73页
第六章 总结与展望第73-75页
    6.1 总结第73-74页
    6.2 展望第74-75页
致谢第75-77页
参考文献第77-80页

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