摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
第1章 绪论 | 第16-34页 |
1.1 研究的目的与意义 | 第16-19页 |
1.2 国内外研究现状 | 第19-31页 |
1.2.1 衍射望远镜技术研究现状 | 第19-25页 |
1.2.2 含衍射元件光学系统的杂散光研究现状 | 第25-28页 |
1.2.3 成像光学系统杂散光研究现状 | 第28-31页 |
1.3 本文的主要研究内容与结构安排 | 第31-34页 |
1.3.1 论文的主要研究内容 | 第31页 |
1.3.2 论文的结构安排 | 第31-34页 |
第2章 衍射成像系统杂散光研究的基本理论 | 第34-50页 |
2.1 衍射成像系统基本原理 | 第34-42页 |
2.1.1 衍射透镜成像原理 | 第34-36页 |
2.1.2 衍射元件分析方法 | 第36-41页 |
2.1.3 衍射望远镜消色差原理 | 第41-42页 |
2.2 杂散光分析基本理论与概念 | 第42-49页 |
2.2.1 光能传递模型 | 第42-44页 |
2.2.2 表面散射模型 | 第44-47页 |
2.2.3 成像光学系统的杂散光分析与测试 | 第47-49页 |
2.3 本章小结 | 第49-50页 |
第3章 加工误差对衍射透镜点扩散函数的影响 | 第50-76页 |
3.1 加工误差对衍射透镜振幅透过率的影响 | 第50-56页 |
3.1.1 二元衍射透镜制作工艺 | 第50-52页 |
3.1.2 加工误差对衍射透镜相位分布函数的影响 | 第52-56页 |
3.2 大口径衍射透镜焦面衍射场数值计算 | 第56-58页 |
3.3 加工误差对点扩散函数的影响 | 第58-66页 |
3.3.1 刻蚀深度误差 | 第58-60页 |
3.3.2 线宽误差 | 第60-62页 |
3.3.3 掩模对准误差 | 第62-66页 |
3.4 四台阶衍射透镜点扩散函数与衍射效率测试实验 | 第66-73页 |
3.4.1 四台阶衍射透镜误差量化 | 第66-67页 |
3.4.2 实验样片点扩散函数测试与仿真计算结果比较 | 第67-73页 |
3.5 本章小结 | 第73-76页 |
第4章 衍射望远镜系统的鬼像特性 | 第76-90页 |
4.1 鬼像来源 | 第76-79页 |
4.2 折、衍混合成像系统鬼像快速分析方法 | 第79-80页 |
4.3 衍射望远镜样机的鬼像分析 | 第80-85页 |
4.3.1 样机系统的结构与模型 | 第80-83页 |
4.3.2 样机系统的鬼像分析结果 | 第83-84页 |
4.3.3 样机系统的鬼像验证实验 | 第84-85页 |
4.4 衍射望远镜鬼像抑制措施探究 | 第85-88页 |
4.5 本章小结 | 第88-90页 |
第5章 衍射元件多级衍射对系统调制传递函数的影响 | 第90-102页 |
5.1 折、衍混合成像系统传递函数计算方法 | 第90-93页 |
5.1.1 折、衍混合成像系统MTF计算方法与流程 | 第90-92页 |
5.1.2 不同计算方法下MTF对比 | 第92-93页 |
5.2 衍射望远镜样机系统的传递函数计算实例 | 第93-95页 |
5.3 提高衍射望远镜系统传递函数的措施 | 第95-100页 |
5.3.1 提高主镜台阶数目 | 第95-96页 |
5.3.2 主镜中心制作成多台阶 | 第96-99页 |
5.3.3 色差校正透镜中心制作成多台阶 | 第99-100页 |
5.4 本章小结 | 第100-102页 |
第6章 衍射望远镜系统对轴外杂散光的抑制特性 | 第102-116页 |
6.1 衍射望远镜样机的光机模型 | 第102-105页 |
6.2 样机系统的PST分析 | 第105-109页 |
6.3 样机系统的杂光系数计算 | 第109-111页 |
6.4 样机系统的杂光系数测试 | 第111-113页 |
6.5 衍射望远镜的杂散光抑制措施探究 | 第113-114页 |
6.6 小结 | 第114-116页 |
第7章 总结与展望 | 第116-120页 |
7.1 本文的主要研究工作 | 第116-117页 |
7.2 本文的创新之处 | 第117-118页 |
7.3 本文的不足与展望 | 第118-120页 |
参考文献 | 第120-126页 |
致谢 | 第126-128页 |
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第128页 |