| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 专用术语注释表 | 第9-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-14页 |
| 1.1 课题背景及现状 | 第10-11页 |
| 1.2 课题来源及本人工作 | 第11页 |
| 1.3 本文内容与组织 | 第11-12页 |
| 1.4 系统开发的环境 | 第12页 |
| 1.5 系统开发的方法 | 第12-14页 |
| 1.5.1 研究方法与步骤 | 第12页 |
| 1.5.2 技术路线 | 第12-14页 |
| 第二章 万能式断路器智能控制器设计原理 | 第14-28页 |
| 2.1 万能式断路器简介 | 第14-15页 |
| 2.2 万能式断路器智能控制器 | 第15-25页 |
| 2.2.1 智能控制器的工作原理 | 第15-16页 |
| 2.2.2 智能控制器的保护功能 | 第16-19页 |
| 2.2.3 智能控制器的Modbus通信功能 | 第19-25页 |
| 2.3 万能式断路器智能控制器的测试项目和基本要求 | 第25-28页 |
| 2.3.1 过载长延时 | 第25-26页 |
| 2.3.2 短路短延时 | 第26页 |
| 2.3.3 短路瞬动动作 | 第26页 |
| 2.3.4 接地故障 | 第26页 |
| 2.3.5 MCR保护 | 第26页 |
| 2.3.6 ZSI保护 | 第26-27页 |
| 2.3.7 Modbus通信 | 第27-28页 |
| 第三章 万能式断路器智能控制器测试系统的硬件设计 | 第28-49页 |
| 3.1 概述 | 第28页 |
| 3.2 硬件总体设计方案 | 第28-31页 |
| 3.2.1 设计原理 | 第28-30页 |
| 3.2.2 技术指标 | 第30-31页 |
| 3.3 关键元件选型 | 第31-41页 |
| 3.3.1 STM32F103系列微处理器 | 第31-38页 |
| 3.3.2 数模转换器 | 第38-41页 |
| 3.4 原理框图 | 第41-42页 |
| 3.5 相关接口说明 | 第42页 |
| 3.6 数模转换器 | 第42-43页 |
| 3.6.1 工作原理 | 第42页 |
| 3.6.2 技术指标 | 第42-43页 |
| 3.7 正弦波生成原理 | 第43-44页 |
| 3.8 工作电路介绍 | 第44-49页 |
| 3.8.1 电源 | 第44页 |
| 3.8.2 数模转换器接口设计 | 第44-45页 |
| 3.8.3 5V电压基准 | 第45页 |
| 3.8.4 低通滤波电路 | 第45-46页 |
| 3.8.5 RS485通信电路 | 第46-47页 |
| 3.8.6 开关量输入输出单元 | 第47-49页 |
| 第四章 万能式断路器智能控制器测试系统的软件设计 | 第49-64页 |
| 4.1 软件的整体设计方案 | 第49页 |
| 4.2 软件设计平台 | 第49-50页 |
| 4.3 三相正弦波软件生成方法 | 第50-52页 |
| 4.4 正弦波信号有效值采样原理 | 第52-53页 |
| 4.5 装置程序设计 | 第53-64页 |
| 4.5.1 主程序软件流程图 | 第53-54页 |
| 4.5.2 过载长延时测试 | 第54-56页 |
| 4.5.3 短路短延时测试 | 第56-58页 |
| 4.5.4 瞬时动作测试 | 第58-59页 |
| 4.5.5 接地故障测试 | 第59-60页 |
| 4.5.6 MCR测试 | 第60-61页 |
| 4.5.7 ZSI测试 | 第61-62页 |
| 4.5.8 通信测试 | 第62-64页 |
| 第五章 课题总结与展望 | 第64-65页 |
| 5.1 课题总结 | 第64页 |
| 5.2 展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-66页 |
| 附录 图表清单 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68页 |