| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第14-15页 |
| 缩略语对照表 | 第15-19页 |
| 第一章 绪论 | 第19-27页 |
| 1.1 研究背景 | 第19-21页 |
| 1.2 研究现状 | 第21-24页 |
| 1.2.1 国内外UHF RFID标准现状 | 第21-23页 |
| 1.2.2 标签芯片设计 | 第23页 |
| 1.2.3 温度传感器设计 | 第23-24页 |
| 1.2.4 随机数发生器设计 | 第24页 |
| 1.3 论文创新点 | 第24-25页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第25-27页 |
| 第二章 无源UHF RFID系统组成及技术原理 | 第27-33页 |
| 2.1 系统组成 | 第27页 |
| 2.2 工作原理及通信过程 | 第27-28页 |
| 2.3 无源UHF RFID系统的能量传输 | 第28-32页 |
| 2.3.1 正向能量传输 | 第28-29页 |
| 2.3.2 反向能量传输 | 第29-30页 |
| 2.3.3 通信距离受限因素分析 | 第30-32页 |
| 2.4 小结 | 第32-33页 |
| 第三章 超低功耗无源UHF RFID标签芯片设计 | 第33-69页 |
| 3.1 标签芯片系统架构 | 第33-34页 |
| 3.2 射频前端电路 | 第34-45页 |
| 3.2.1 高效倍压整流电路设计 | 第34-38页 |
| 3.2.2 解调电路 | 第38-43页 |
| 3.2.3 调制电路 | 第43-44页 |
| 3.2.4 过压保护电路 | 第44-45页 |
| 3.3 模拟前端电路 | 第45-64页 |
| 3.3.1 电源管理模块 | 第45-56页 |
| 3.3.2 掉电检测电路 | 第56-57页 |
| 3.3.3 复位电路 | 第57-59页 |
| 3.3.4 时钟电路 | 第59-64页 |
| 3.3.5 整体前端仿真结果 | 第64页 |
| 3.4 数字基带设计 | 第64-67页 |
| 3.5 存储器设计 | 第67-68页 |
| 3.6 小结 | 第68-69页 |
| 第四章 适用于无源UHF RFID的集成温度传感器设计 | 第69-85页 |
| 4.1 传统集成温度传感器及应用于RFID面临的问题 | 第69-72页 |
| 4.1.1 传统温度传感器 | 第69-71页 |
| 4.1.2 应用与无源RFID的传感器面临的问题 | 第71-72页 |
| 4.2 适用于UHF RFID的温度传感器方案选择 | 第72-77页 |
| 4.2.1 温度传感器方案 | 第72-74页 |
| 4.2.2 温度传感器整体分析 | 第74-75页 |
| 4.2.3 温度传感器的校准 | 第75-76页 |
| 4.2.4 温度传感器的补偿方法 | 第76-77页 |
| 4.3 适用于UHF RFID的温度传感器电路实现 | 第77-83页 |
| 4.3.1 温度采样与偏置电路 | 第77-78页 |
| 4.3.2 振荡器电路 | 第78-79页 |
| 4.3.3 温度传感器关断电路电路 | 第79-80页 |
| 4.3.4 分频器 | 第80-83页 |
| 4.4 温度传感器仿真结果 | 第83-84页 |
| 4.5 小结 | 第84-85页 |
| 第五章 适用于无源UHF RFID的随机数产生器设计 | 第85-99页 |
| 5.1 衡量随机序列质量的主要指标 | 第85-86页 |
| 5.2 数字方案的伪随机数发生器 | 第86-88页 |
| 5.2.1 固定的种子结合固定的时钟移位算法 | 第86页 |
| 5.2.2 采用模拟输入时钟产生作为种子结合固定的时钟移位算法 | 第86-87页 |
| 5.2.3 采用EPC-CRC16作为种子结合控制的移位算法 | 第87-88页 |
| 5.3 利用电阻热噪声的随机数产生器 | 第88-93页 |
| 5.3.1 原理分析 | 第88-89页 |
| 5.3.2 电路实现 | 第89-90页 |
| 5.3.3 仿真结果 | 第90-93页 |
| 5.4 利用时钟抖动的随机数发生器 | 第93-97页 |
| 5.4.1 原理分析 | 第93-94页 |
| 5.4.2 电路实现 | 第94-95页 |
| 5.4.3 仿真结果 | 第95-97页 |
| 5.5 小结 | 第97-99页 |
| 第六章 标签芯片的实现与测试 | 第99-111页 |
| 6.1 标签芯片实现 | 第99-101页 |
| 6.2 测试平台 | 第101-103页 |
| 6.3 测试结果 | 第103-110页 |
| 6.3.1 关键测试波形 | 第103-106页 |
| 6.3.2 芯片整体测试 | 第106-107页 |
| 6.3.3 温度传感器测试 | 第107-109页 |
| 6.3.4 随机数发生器测试 | 第109-110页 |
| 6.4 小结 | 第110-111页 |
| 第七章 总结与展望 | 第111-115页 |
| 7.1 总结 | 第111-112页 |
| 7.2 展望 | 第112-115页 |
| 致谢 | 第115-117页 |
| 参考文献 | 第117-127页 |
| 附录1 | 第127-129页 |
| 作者简介 | 第129-130页 |
