W波段焦平面阵列被动成像前端关键技术研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第13-32页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第13-14页 |
| 1.2 毫米波成像技术发展概况 | 第14-19页 |
| 1.3 国外毫米波焦面阵被动成像技术研究现状 | 第19-28页 |
| 1.3.1 二维焦面阵成像技术 | 第20-21页 |
| 1.3.2 一维焦面阵成像技术 | 第21-24页 |
| 1.3.3 毫米波焦平面阵天线技术 | 第24-25页 |
| 1.3.4 毫米波辐射计技术 | 第25-28页 |
| 1.4 国内毫米波被动成像的研究现状 | 第28-31页 |
| 1.5 本文主要研究内容及章节安排 | 第31-32页 |
| 第二章 毫米波辐射探测理论 | 第32-48页 |
| 2.1 引言 | 第32页 |
| 2.2 辐射探测理论 | 第32-35页 |
| 2.2.1 普朗克黑体辐射定律 | 第32-34页 |
| 2.2.2 天线温度 | 第34-35页 |
| 2.3 天线效率 | 第35-40页 |
| 2.3.1 天线波束效率 | 第36页 |
| 2.3.2 天线辐射效率 | 第36-37页 |
| 2.3.3 天线波束效率分析 | 第37-40页 |
| 2.4 毫米波辐射亮温分析 | 第40-47页 |
| 2.4.1 单辐射体的视在温度 | 第40-41页 |
| 2.4.2 多层辐射体的视在温度 | 第41-43页 |
| 2.4.3 隐匿目标探测性能分析 | 第43-47页 |
| 2.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第三章 基于抛物反射面的焦平面阵列天线 | 第48-72页 |
| 3.1 引言 | 第48页 |
| 3.2 抛物面天线 | 第48-51页 |
| 3.2.1 抛物面天线的几何参数 | 第48-49页 |
| 3.2.2 偏焦的几何畸变分析 | 第49-51页 |
| 3.3 抛物面天线横向偏焦特性分析 | 第51-55页 |
| 3.3.1 反射面天线辐射场分析 | 第51-54页 |
| 3.3.2 抛物面天线偏焦特性分析 | 第54-55页 |
| 3.4 焦平面阵列天线馈源阵列设计 | 第55-58页 |
| 3.4.1 数据采样对馈源间距的要求 | 第55-56页 |
| 3.4.2 采样间隔对天线效率的影响 | 第56-57页 |
| 3.4.3 馈源与反射面天线场偶合效率分析 | 第57-58页 |
| 3.5 16元W波段全采样焦平面线阵设计 | 第58-71页 |
| 3.5.1 反射面天线参数确定 | 第59页 |
| 3.5.2 馈源阵列排列优化 | 第59-61页 |
| 3.5.3 焦平面阵列天线仿真与优化 | 第61-66页 |
| 3.5.4 焦平面阵列天线实验研究 | 第66-71页 |
| 3.6 本章小结 | 第71-72页 |
| 第四章 近程聚焦焦平面阵列介质透镜天线 | 第72-99页 |
| 4.1 引言 | 第72页 |
| 4.2 透镜天线准光分析 | 第72-85页 |
| 4.2.1 高斯波束准光理论 | 第73-76页 |
| 4.2.2 准光透镜光路参数 | 第76-78页 |
| 4.2.3 准光透镜近场聚焦分析方法 | 第78-85页 |
| 4.3 W波段近程聚焦透镜天线设计与实验研究 | 第85-98页 |
| 4.3.1 双曲面透镜天线 | 第85-91页 |
| 4.3.2 非球面透镜天线 | 第91-98页 |
| 4.4 本章小结 | 第98-99页 |
| 第五章W波段小型化高灵敏辐射计 | 第99-117页 |
| 5.1 引言 | 第99页 |
| 5.2 辐射计通道能量传递模型 | 第99-104页 |
| 5.2.1 辐射计体制 | 第99-100页 |
| 5.2.2 理想全功率辐射计辐射能量传递 | 第100-102页 |
| 5.2.3 宽带全功率辐射计亮温灵敏度分析 | 第102-104页 |
| 5.3 W波段宽带直接检波辐射计研究 | 第104-116页 |
| 5.3.1 参数可调辐射计电路方案 | 第105-106页 |
| 5.3.2 波导至共面线过渡结构 | 第106-107页 |
| 5.3.3 W波段宽带级联低噪声放大器 | 第107-110页 |
| 5.3.4 W波段宽带检波器 | 第110-113页 |
| 5.3.5 辐射计通道调节设计方案 | 第113页 |
| 5.3.6 小型化高灵敏辐射计通道实现 | 第113-116页 |
| 5.4 本章小结 | 第116-117页 |
| 第六章W波段焦平面阵列近程被动成像系统研究 | 第117-130页 |
| 6.1 引言 | 第117页 |
| 6.2 焦平面阵列被动成像系统方案 | 第117-125页 |
| 6.2.1 系统扫描方式分析 | 第117-119页 |
| 6.2.2 反射镜表面粗糙度影响分析 | 第119-120页 |
| 6.2.3 焦平面接收阵列排列 | 第120-121页 |
| 6.2.4 成像系统通道一致性校准方法 | 第121-125页 |
| 6.3 W波段焦平面阵被动探测成像系统实验研究 | 第125-129页 |
| 6.3.1 成像系统组成 | 第125-126页 |
| 6.3.2 成像系统试验 | 第126-128页 |
| 6.3.3 被动成像系统成像实验 | 第128-129页 |
| 6.4 本章小结 | 第129-130页 |
| 第七章 结论与展望 | 第130-132页 |
| 致谢 | 第132-133页 |
| 参考文献 | 第133-142页 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 | 第142-144页 |
