TFT面板表面缺陷检测高速图像采集与处理方法研究
| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| Abstract | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第15-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-16页 |
| 1.2 TFT-LCD面板缺陷检测研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 研究意义 | 第17-18页 |
| 1.4 研究内容及章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 TFT-LCD的结构及缺陷分析 | 第20-28页 |
| 2.1 TFT-LCD屏幕的结构 | 第20-21页 |
| 2.2 常见缺陷及其产生原因 | 第21-25页 |
| 2.2.1 宏观缺陷及其产生原因 | 第22-24页 |
| 2.2.2 微观缺陷及其产生原因 | 第24-25页 |
| 2.3 缺陷的特征抽取和标记分类 | 第25-28页 |
| 第三章 系统运作过程及处理算法的研究 | 第28-44页 |
| 3.1 系统架构的研究现状 | 第28-29页 |
| 3.2 系统架构设计 | 第29-34页 |
| 3.2.1 照明与成像系统设计 | 第30-33页 |
| 3.2.2 图像数据采集控制与传输处理部分设计 | 第33-34页 |
| 3.3 图像预处理算法的研究 | 第34-44页 |
| 3.3.1 图像去噪算法研究 | 第35-37页 |
| 3.3.2 图像增强算法研究 | 第37-40页 |
| 3.3.3 图像分割算法研究 | 第40-44页 |
| 第四章 试验过程及算法改进 | 第44-56页 |
| 4.1 项目总体方案的确立 | 第44-49页 |
| 4.1.1 多相机并行采集和传输 | 第44-48页 |
| 4.1.2 图像采集卡的预处理 | 第48-49页 |
| 4.2 图像预处理算法的研究与改进 | 第49-56页 |
| 4.2.1 改进去噪算法 | 第49-52页 |
| 4.2.2 改进图像增强算法 | 第52-53页 |
| 4.2.3 改进图像分割算法 | 第53-56页 |
| 第五章 实验结果分析 | 第56-68页 |
| 5.1 上位机接口程序的设计与制作 | 第56-62页 |
| 5.1.1 传输显示与远程控制模块 | 第59-61页 |
| 5.1.2 性能监视模块 | 第61-62页 |
| 5.2 试验过程及采集处理结果记录 | 第62-68页 |
| 5.2.1 图像的采集结果 | 第63-65页 |
| 5.2.2 图像的处理与分析结果 | 第65-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 本文总结 | 第68页 |
| 6.2 课题展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 附录一：触发电路原理图 | 第73-74页 |
| 附录二：触发电路的PCB排版图 | 第74-75页 |
| 附录三：分布式高速采集与处理系统的运作流程图 | 第75-76页 |
| 攻读硕±学位期间发表的论文 | 第76页 |
