抗辐照4K×32bit SRAM的研究与设计
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-12页 |
第一章 绪论 | 第12-16页 |
·选题依据 | 第12-13页 |
·研究意义 | 第13页 |
·国内外研究现状 | 第13-14页 |
·论文的主要工作 | 第14-15页 |
·本文的组织结构 | 第15-16页 |
第二章 SRAM 的端口定义及整体划分 | 第16-19页 |
·SRAM 端口定义 | 第16-17页 |
·SRAM 模块结构 | 第17-19页 |
第三章 SRAM 电路设计 | 第19-52页 |
·SRAM 存储单元的设计 | 第19-34页 |
·存储单元工作原理 | 第19-24页 |
·位线负载 | 第24-25页 |
·CMOS 器件的单粒子效应 | 第25-28页 |
·双互锁存储单元抗单粒子SEU 结构 | 第28-34页 |
·SRAM 存储阵列及行列译码 | 第34-45页 |
·基于字线的设计考虑 | 第34-35页 |
·基于位线的设计考虑 | 第35-36页 |
·存储阵列规划 | 第36-45页 |
·SRAM 外围控制电路设计 | 第45-52页 |
·SRAM 读模块 | 第45-49页 |
·SRAM 写模块 | 第49-50页 |
·仲裁电路模块 | 第50-52页 |
第四章 SRAM 仿真验证 | 第52-71页 |
·SRAM 的整体功能仿真验证 | 第52-61页 |
·NanoSim NCS 混合仿真测试 | 第52-60页 |
·利用spectre 搭建测试激励进行测试 | 第60-61页 |
·SRAM 的抗辐照功能的验证 | 第61-69页 |
·瞬态脉冲注入法 | 第61-63页 |
·Hspice 单粒子效应模拟仿真 | 第63-69页 |
·SRAM 功耗测试 | 第69-70页 |
·测试总结 | 第70-71页 |
第五章 总结与展望 | 第71-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-77页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第77-78页 |