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抗辐照4K×32bit SRAM的研究与设计

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-12页
第一章 绪论第12-16页
   ·选题依据第12-13页
   ·研究意义第13页
   ·国内外研究现状第13-14页
   ·论文的主要工作第14-15页
   ·本文的组织结构第15-16页
第二章 SRAM 的端口定义及整体划分第16-19页
   ·SRAM 端口定义第16-17页
   ·SRAM 模块结构第17-19页
第三章 SRAM 电路设计第19-52页
   ·SRAM 存储单元的设计第19-34页
     ·存储单元工作原理第19-24页
     ·位线负载第24-25页
     ·CMOS 器件的单粒子效应第25-28页
     ·双互锁存储单元抗单粒子SEU 结构第28-34页
   ·SRAM 存储阵列及行列译码第34-45页
     ·基于字线的设计考虑第34-35页
     ·基于位线的设计考虑第35-36页
     ·存储阵列规划第36-45页
   ·SRAM 外围控制电路设计第45-52页
     ·SRAM 读模块第45-49页
     ·SRAM 写模块第49-50页
     ·仲裁电路模块第50-52页
第四章 SRAM 仿真验证第52-71页
   ·SRAM 的整体功能仿真验证第52-61页
     ·NanoSim NCS 混合仿真测试第52-60页
     ·利用spectre 搭建测试激励进行测试第60-61页
   ·SRAM 的抗辐照功能的验证第61-69页
     ·瞬态脉冲注入法第61-63页
     ·Hspice 单粒子效应模拟仿真第63-69页
   ·SRAM 功耗测试第69-70页
   ·测试总结第70-71页
第五章 总结与展望第71-73页
致谢第73-74页
参考文献第74-77页
攻硕期间取得的研究成果第77-78页

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