| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 论文结构安排 | 第11-12页 |
| 参考文献 | 第12-13页 |
| 第二章 ROF系统中的光探测器 | 第13-30页 |
| 2.1 ROF系统概述 | 第13-15页 |
| 2.2 ROF系统光探测器的研究进展 | 第15-22页 |
| 2.2.1 PIN光探测器 | 第15-17页 |
| 2.2.2 部分耗尽吸收层(PDA)光探测器 | 第17-19页 |
| 2.2.3 单行载流子(UTC)光探测器 | 第19-22页 |
| 2.3 PIN光探测器的工作原理和性能参数分析 | 第22-27页 |
| 2.3.1 PIN光探测器基本原理 | 第22页 |
| 2.3.2 响应度和量子效率 | 第22-23页 |
| 2.3.3 3dB带宽 | 第23-24页 |
| 2.3.4 1dB压缩电流和三阶交调点 | 第24-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 参考文献 | 第28-30页 |
| 第三章 PIN光探测器非线性的研究 | 第30-41页 |
| 3.1 光探测器载流子漂移-扩散模型的建立 | 第30-33页 |
| 3.1.1 载流子传输方程 | 第30-31页 |
| 3.1.2 载流子输运方程 | 第31-33页 |
| 3.2 光探测器非线性成因 | 第33-34页 |
| 3.3 光探测器非线性的影响 | 第34-39页 |
| 3.3.1 光生电流饱和 | 第34-36页 |
| 3.3.2 交流信号失真 | 第36-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 参考文献 | 第40-41页 |
| 第四章 光探测器性能测试的研究 | 第41-61页 |
| 4.1 光探测器3DB带宽扫频法测试系统 | 第41-43页 |
| 4.1.1 3dB带宽扫频法测试系统 | 第41-42页 |
| 4.1.2 实验结果 | 第42-43页 |
| 4.2 光探测器饱和电流测试系统 | 第43-49页 |
| 4.2.1 1dB饱和电流频域小信号测试系统 | 第44-45页 |
| 4.2.2 1dB饱和电流大信号测试系统 | 第45-47页 |
| 4.2.3 1dB饱和电流时域信号测试系统 | 第47页 |
| 4.2.4 1dB压缩电流测试系统的分析 | 第47-49页 |
| 4.2.4.1 频域和时域1dB测试系统的分析 | 第47-48页 |
| 4.2.4.2 1dB频域小信号和频域大信号测试系统的分析 | 第48-49页 |
| 4.3 光探测器三阶交调点(OIP3)的测量系统 | 第49-53页 |
| 4.3.1 等效电路模型分析光探测器交调信号产生的原因 | 第49-50页 |
| 4.3.2 光探测器OIP3四激光器拍频测试法 | 第50-51页 |
| 4.3.3 光探测器OIP3双信号源直接调制测试法 | 第51-52页 |
| 4.3.4 光探测器OIP3双信号源三激光器直接调制测试法 | 第52页 |
| 4.3.5 光探测器OIP3四激光器三信号源测试系统 | 第52-53页 |
| 4.3.6 光探测器OIP3Max偏置点三阶交调点的测试 | 第53页 |
| 4.4 实验方案 | 第53-55页 |
| 4.5 光探测器OIP3测试系统间的联系 | 第55-58页 |
| 4.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 第五章 光探测器OIP3双信号源测试系统误差的研究 | 第61-70页 |
| 5.1 光探测器输出的三阶交调信号的研究 | 第61-64页 |
| 5.2 OPTISYSTEM仿真探究调制器偏压偏移对于OIP3双信号源测试结果的影响 | 第64-66页 |
| 5.2.1 Optisystem仿真环境 | 第64页 |
| 5.2.2 Optisystem仿真结果 | 第64-66页 |
| 5.3 实验结果 | 第66-68页 |
| 5.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第71页 |
