摘要 | 第8-9页 |
Abstract | 第9-10页 |
第1章 绪论 | 第11-27页 |
1.1 引言 | 第11-12页 |
1.2 TiO_2材料概述 | 第12-17页 |
1.2.1 TiO_2的结构 | 第12-13页 |
1.2.2 TiO_2光催化机理 | 第13页 |
1.2.3 TiO_2薄膜的制备方法 | 第13-15页 |
1.2.4 介孔TiO_2薄膜的制备方法 | 第15-16页 |
1.2.5 TiO_2薄膜的应用现状 | 第16-17页 |
1.3 石墨烯概述 | 第17-21页 |
1.3.1 石墨烯的结构与性质 | 第17-18页 |
1.3.2 石墨烯的制备方法 | 第18-20页 |
1.3.3 石墨烯的应用现状 | 第20-21页 |
1.4 石墨烯-Ti O_2复合材料的研究进展 | 第21-25页 |
1.4.1 石墨烯-TiO_2纳米粉体的制备 | 第21-22页 |
1.4.2 石墨烯-TiO_2薄膜的制备 | 第22-23页 |
1.4.3 石墨烯-TiO_2复合材料的光催化机理 | 第23页 |
1.4.4 石墨烯-TiO_2复合材料的应用现状 | 第23-25页 |
1.5 课题提出 | 第25-27页 |
第2章 实验过程及研究方法 | 第27-33页 |
2.1 实验所用试剂 | 第27页 |
2.2 实验所用主要仪器设备 | 第27-29页 |
2.3 样品的制备 | 第29-30页 |
2.3.1 前驱体溶胶的制备 | 第29页 |
2.3.2 rGO-TiO_2薄膜的制备 | 第29-30页 |
2.3.3 rGO-TiO_2(PVP)薄膜的制备 | 第30页 |
2.4 结构与形貌分析 | 第30-31页 |
2.4.1 X射线衍射(XRD)分析 | 第30页 |
2.4.2 扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第30-31页 |
2.4.3 比表面积测定(BET)分析 | 第31页 |
2.4.4 荧光发射(PL)光谱分析 | 第31页 |
2.5 光催化活性测试 | 第31-33页 |
2.5.1 标准浓度曲线的标定 | 第31-32页 |
2.5.2 光催化性能测试方法 | 第32-33页 |
第3章 主要工艺参数的确定 | 第33-40页 |
3.1 引言 | 第33页 |
3.2 前驱体溶胶粘度的确定 | 第33-37页 |
3.2.1 涂-4 粘度计的工作原理 | 第33-34页 |
3.2.2 TiO_2前驱体溶胶粘度的确定 | 第34页 |
3.2.3 TiO_2(PVP)前驱体溶胶粘度的确定 | 第34-35页 |
3.2.4 G O前 驱体溶胶粘度的确定 | 第35页 |
3.2.5 前驱体溶胶的稳定性 | 第35-37页 |
3.3 基片提拉速度的确定 | 第37页 |
3.4 GO还原时间的确定 | 第37-39页 |
3.5 本章小结 | 第39-40页 |
第4章 rGO-TiO_2薄膜 | 第40-47页 |
4.1 引言 | 第40页 |
4.2 rGO-TiO_2薄膜的XRD分析 | 第40-41页 |
4.3 rGO-TiO_2薄膜的SEM分析 | 第41-43页 |
4.4 rGO-TiO_2薄膜的BET分析 | 第43-44页 |
4.5 rGO-TiO_2薄膜的PL分析 | 第44-45页 |
4.6 本章小结 | 第45-47页 |
第5章 rGO-TiO_2(PVP)薄膜 | 第47-55页 |
5.1 引言 | 第47页 |
5.2 rGO-TiO_2(PVP)薄膜的XRD分析 | 第47-48页 |
5.3 rGO-TiO_2(PVP)薄膜的SEM分析 | 第48-51页 |
5.4 rGO-TiO_2(PVP)薄膜的BET分析 | 第51-52页 |
5.5 rGO-TiO_2(PVP)薄膜的PL分析 | 第52-54页 |
5.6 本章小结 | 第54-55页 |
第6章 rGO-TiO_2薄膜的光催化性研究 | 第55-62页 |
6.1 引言 | 第55页 |
6.2 加入量对薄膜光催化性的影响 | 第55-56页 |
6.3 层数对薄膜光催化性的影响 | 第56-59页 |
6.4 薄膜的循环利用 | 第59-60页 |
6.5 本章小结 | 第60-62页 |
结论与展望 | 第62-63页 |
结论 | 第62页 |
展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
附录A攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第73页 |