带有1.5-b冗余加速结构的低功耗SAR模数转换器设计研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 引言 | 第7-11页 |
| 1.1 研究背景 | 第7页 |
| 1.2 研究发展现状 | 第7-8页 |
| 1.3 本文的意义 | 第8-9页 |
| 1.3.1 研究目标 | 第8页 |
| 1.3.2 主要创新点 | 第8-9页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第9-11页 |
| 第二章 逐次逼近型模数转换器 | 第11-19页 |
| 2.1 模数转换器概述 | 第11页 |
| 2.2 模数转换器主要参数指标 | 第11-14页 |
| 2.3 逐次逼近型模数转换结构 | 第14-17页 |
| 2.3.1 传统逐次逼近型结构基本原理 | 第14-15页 |
| 2.3.2 先进逐次逼近型结构中的设计技术 | 第15-17页 |
| 2.3.3 逐次逼近型结构的特点与不足 | 第17页 |
| 2.4 本章小结 | 第17-19页 |
| 第三章 1.5-b冗余加速结构 | 第19-27页 |
| 3.1 流水线型模数转换器中的1.5-b冗余技术 | 第19-20页 |
| 3.2 逐次逼近型结构中的1.5-b冗余加速结构 | 第20-26页 |
| 3.2.1 偏移误差冗余分析 | 第20-22页 |
| 3.2.2 建立误差冗余分析 | 第22-26页 |
| 3.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第四章 电容阵列寄生分析 | 第27-36页 |
| 4.1 传统电容阵列中的寄生影响 | 第27-29页 |
| 4.2 桥接电容阵列中的寄生影响 | 第29-35页 |
| 4.2.1 桥接电容阵列转换器关系 | 第30-32页 |
| 4.2.2 桥接电容寄生影响及消除方法 | 第32-35页 |
| 4.3 本章小结 | 第35-36页 |
| 第五章 电路与版图设计 | 第36-50页 |
| 5.1 整体电路结构 | 第36-38页 |
| 5.2 自举采样开关 | 第38-39页 |
| 5.3 电容阵列 | 第39-41页 |
| 5.4 开关阵列 | 第41-42页 |
| 5.5 比较器 | 第42-43页 |
| 5.6 参考数模转换器 | 第43页 |
| 5.7 数字控制逻辑 | 第43-46页 |
| 5.7.1 异步时钟控制 | 第43-46页 |
| 5.7.2 数字输出逻辑 | 第46页 |
| 5.8 可控延时链与占空比控制电路 | 第46-47页 |
| 5.9 整体版图布局 | 第47-48页 |
| 5.10 本章小结 | 第48-50页 |
| 第六章 流片与测试 | 第50-67页 |
| 6.1 流片结果 | 第50-51页 |
| 6.2 测试方案 | 第51-52页 |
| 6.2.1 片管脚配置与定义 | 第51页 |
| 6.2.2 测试系统与测试方法 | 第51-52页 |
| 6.3 测试准备 | 第52-55页 |
| 6.3.1 测试仪器与测试环境 | 第52-54页 |
| 6.3.2 测试评估板设计 | 第54-55页 |
| 6.4 测试过程 | 第55-58页 |
| 6.5 测试结果分析 | 第58-65页 |
| 6.6 性能总结与比较 | 第65-66页 |
| 6.7 本章小结 | 第66-67页 |
| 第七章 总结与展望 | 第67-71页 |
| 7.1 总结 | 第67-68页 |
| 7.2 展望 | 第68-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 个人发表论文目录 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
