偏光片外观缺陷成像仿真与检测
| 摘要 | 第2-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 偏光片 | 第9-10页 |
| 1.2 偏光片外观缺陷 | 第10-11页 |
| 1.3 外观缺陷检测技术 | 第11-15页 |
| 1.3.1 人工检测 | 第11-12页 |
| 1.3.2 机器视觉与自动检测技术 | 第12-13页 |
| 1.3.3 离线自动检测技术研究进展 | 第13-15页 |
| 1.4 结构光检测技术 | 第15-17页 |
| 第2章 实验系统 | 第17-25页 |
| 2.1 实验系统 | 第17-21页 |
| 2.1.1 工业相机的选取 | 第17-18页 |
| 2.1.2 镜头的选择 | 第18-19页 |
| 2.1.3 光源的选择 | 第19页 |
| 2.1.4 实验台架 | 第19-20页 |
| 2.1.5 遮光装置 | 第20-21页 |
| 2.1.6 实验系统整体结构 | 第21页 |
| 2.2 主动光扫描 | 第21-22页 |
| 2.3 实验结果 | 第22-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 缺陷成像的仿真研究 | 第25-45页 |
| 3.1 仿真软件 | 第25-27页 |
| 3.2 缺陷模型 | 第27-28页 |
| 3.3 仿真系统 | 第28-32页 |
| 3.3.1 光源的建立 | 第28-29页 |
| 3.3.2 偏光片模型的建立及参数设置 | 第29-30页 |
| 3.3.3 接收屏的建立及参数设置 | 第30页 |
| 3.3.4 软件分析界面参数设置 | 第30-31页 |
| 3.3.5 仿真系统整体结构 | 第31-32页 |
| 3.4 成像增强机理的仿真研究 | 第32-35页 |
| 3.4.1 成像增强仿真系统验证 | 第32-33页 |
| 3.4.2 成像增强机理探索实验 | 第33-34页 |
| 3.4.3 成像增强机理分析 | 第34-35页 |
| 3.5 成像增强机理仿真研究的指导意义 | 第35页 |
| 3.6 成像系统参数对缺陷成像效果的仿真研究 | 第35-43页 |
| 3.6.1 缺陷随像距变化的成像规律 | 第36-40页 |
| 3.6.2 缺陷随深度变化的成像规律研究 | 第40-41页 |
| 3.6.3 深度与像距对缺陷成像的综合研究 | 第41-42页 |
| 3.6.4 折射率差值研究 | 第42-43页 |
| 3.7 本章小结 | 第43-45页 |
| 第4章 仿真与实验对比 | 第45-51页 |
| 4.1 条纹结构光成像增强的仿真与实验对比 | 第45-48页 |
| 4.2 像距对缺陷成像影响的仿真与实验对比 | 第48-49页 |
| 4.3 缺陷深度对缺陷成像影响的仿真与实验对比 | 第49-50页 |
| 4.4 本章总结 | 第50-51页 |
| 第5章 图像处理算法与检测结果 | 第51-59页 |
| 5.1 图像处理算法 | 第51-54页 |
| 5.1.1 目标检测方法 | 第51-52页 |
| 5.1.2 阈值分割 | 第52页 |
| 5.1.3 模板差分法 | 第52-54页 |
| 5.2 检测结果 | 第54-58页 |
| 5.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 第6章 总结与展望 | 第59-60页 |
| 6.1 总结 | 第59页 |
| 6.2 创新点与特色 | 第59页 |
| 6.3 展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 研究成果 | 第65页 |
