| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 背景与意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.3 课题研究意义 | 第10页 |
| 1.4 研究内容及设计指标 | 第10-11页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第10-11页 |
| 1.4.2 设计要求和指标 | 第11页 |
| 1.5 论文组织 | 第11-13页 |
| 第二章 ADC测试基础简介 | 第13-30页 |
| 2.1 模数转换器(ADC)基本原理和结构 | 第13-17页 |
| 2.1.1 ADC的基本工作原理 | 第13-14页 |
| 2.1.2 ADC结构类型 | 第14-17页 |
| 2.2 ADC的基本参数简介 | 第17-22页 |
| 2.2.1 静态参数 | 第17-20页 |
| 2.2.2 动态参数 | 第20-22页 |
| 2.3 ADC测试方法及基础 | 第22-29页 |
| 2.3.1 ADC静态参数测试方法 | 第22-27页 |
| 2.3.2 ADC动态参数测试方法 | 第27-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 基于SEIR测试结构的ADC积分非线性测试算法 | 第30-48页 |
| 3.1 基于SEIR测试结构的ADC积分非线性测试算法总体设计 | 第30-31页 |
| 3.2 ADC均匀缩码测试 | 第31-34页 |
| 3.2.1 ADC均匀缩码直方图 | 第31-32页 |
| 3.2.2 ADC均匀缩码INL拟合曲线 | 第32-34页 |
| 3.3 INL曲线拟合算法设计 | 第34-41页 |
| 3.3.1 ADC输入输出模型 | 第34-35页 |
| 3.3.2 理想低分辩率信号源测试高分辨率ADC | 第35-36页 |
| 3.3.3 非理想低分辨率信号源测试高分辨率ADC | 第36-38页 |
| 3.3.4 移除输入非线性和拟合ADC的INL曲线 | 第38-41页 |
| 3.4 INL曲线的分段拟合设计 | 第41-43页 |
| 3.4.1 分段拟合数据生成方法设计 | 第41-42页 |
| 3.4.2 分段拟合INL曲线的实现 | 第42-43页 |
| 3.5 仿真结果与误差分析 | 第43-47页 |
| 3.5.1 基于SEIR测试结构的ADC积分非线性测试算法仿真验证 | 第43-46页 |
| 3.5.2 基于SEIR测试结构的ADC积分非线性测试算法误差分析 | 第46-47页 |
| 3.6 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 方法验证与结果分析 | 第48-60页 |
| 4.1 信号源模块电路设计 | 第48-51页 |
| 4.1.1 信号源模块输出电路设计 | 第49页 |
| 4.1.2 信号源模块数字输入电路设计 | 第49-50页 |
| 4.1.3 信号源模块电源电路设计 | 第50-51页 |
| 4.2 ADC测试电路设计 | 第51-54页 |
| 4.2.1 ADC待测模块输入电路设计 | 第51-52页 |
| 4.2.2 ADC待测模块时钟信号电路设计 | 第52-53页 |
| 4.2.3 ADC待测模块数字输出电路设计 | 第53页 |
| 4.2.4 ADC待测模块电源电路设计 | 第53-54页 |
| 4.3 测试系统实现 | 第54-57页 |
| 4.3.1 AD9258测试系统结构 | 第54-56页 |
| 4.3.2 测试的基本流程 | 第56-57页 |
| 4.4 实验验证与结果分析 | 第57-59页 |
| 4.5 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 总结 | 第60-61页 |
| 5.2 展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 致谢 | 第66-68页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第68页 |
