基于labVIEW的自动测试系统的研究与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第11-12页 |
| 1.2.1 虚拟仪器发展现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 自动化测试技术发展现状 | 第12页 |
| 1.3 本文研究目的 | 第12-14页 |
| 第二章 系统总体技术，指标及设计 | 第14-28页 |
| 2.1 系统功能要求 | 第14页 |
| 2.2 系统相关技术 | 第14-17页 |
| 2.2.1 虚拟仪器技术 | 第14-15页 |
| 2.2.2 自动化测试技术 | 第15-17页 |
| 2.2.3 PXI总线技术 | 第17页 |
| 2.3 功能测试 | 第17-20页 |
| 2.3.1 功能测试概述 | 第17页 |
| 2.3.2 功能测试的分类 | 第17-18页 |
| 2.3.3 功能测试系统的构成 | 第18-19页 |
| 2.3.4 测试原理 | 第19-20页 |
| 2.4 系统要求指标 | 第20-24页 |
| 2.4.1 接口点相对电平测试 | 第20页 |
| 2.4.2 短时间相对电平测试 | 第20页 |
| 2.4.3 反射衰耗测试 | 第20-21页 |
| 2.4.4 对地阻抗不平衡（纵向转换衰减） | 第21页 |
| 2.4.5 增益随频率变化 | 第21页 |
| 2.4.6 绝对群时延 | 第21-22页 |
| 2.4.7 群时延失真 | 第22-23页 |
| 2.4.8 衡重杂音 | 第23页 |
| 2.4.9 总失真 | 第23-24页 |
| 2.4.10 增益随电平变化 | 第24页 |
| 2.5 系统总体设计 | 第24-26页 |
| 2.5.1 硬件总体设计 | 第25-26页 |
| 2.5.2 软件总体设计 | 第26页 |
| 2.6 本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 系统硬件平台的设计与实现 | 第28-35页 |
| 3.1 系统的硬件结构 | 第28页 |
| 3.2 测试硬件的选型 | 第28-34页 |
| 3.2.1 主控模块 | 第28-29页 |
| 3.2.2 PXI-2530B矩阵开关模块 | 第29-31页 |
| 3.2.3 信号产生模块 | 第31页 |
| 3.2.4 信号测量模块 | 第31页 |
| 3.2.5 机箱选择 | 第31-32页 |
| 3.2.6 测试工装夹具设计 | 第32-34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 系统的软件及界面的设计与实现 | 第35-60页 |
| 4.1 测试程序的设计 | 第35-48页 |
| 4.1.1 三层软件总体设计思路 | 第35页 |
| 4.1.2 底层测试模块的设计 | 第35-42页 |
| 4.1.3 单独测试层设计 | 第42-48页 |
| 4.2 测试主程序层 | 第48-49页 |
| 4.3 人机交互界面设计 | 第49-59页 |
| 4.3.1 初始化界面程序设计 | 第50-51页 |
| 4.3.2 被测板件选择界面程序设计 | 第51-53页 |
| 4.3.3 试验设备信息登记及选择界面程序设计 | 第53-54页 |
| 4.3.4 自动测试界面 | 第54-55页 |
| 4.3.5 手动测试界面设计 | 第55-58页 |
| 4.3.6 可执行文件的生成 | 第58-59页 |
| 4.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 安装及运行 | 第60-62页 |
| 5.1 安装后的检查工作 | 第60页 |
| 5.2 调试运行及结果 | 第60-61页 |
| 5.3 本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 6.1 总结的内容 | 第62页 |
| 6.2 展望的内容 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 附录1 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 附件 | 第69页 |
