| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 概述 | 第9页 |
| 1.2 等离子体电解氧化技术 | 第9-10页 |
| 1.3 等离子体电解氧化影响因素 | 第10-11页 |
| 1.4 超声波技术 | 第11页 |
| 1.5 本文的主要研究内容 | 第11-13页 |
| 第2章 实验设备和研究方法 | 第13-18页 |
| 2.1 试样选材及预处理 | 第13页 |
| 2.1.1 基体材料 | 第13页 |
| 2.1.2 电解液 | 第13页 |
| 2.1.3 试样准备 | 第13页 |
| 2.2 等离子体电解氧化设备 | 第13-14页 |
| 2.3 实验方法及检测 | 第14-17页 |
| 2.3.1 等离子体电解氧化膜层制备 | 第14页 |
| 2.3.2 电压采集 | 第14页 |
| 2.3.3 火花形貌 | 第14-15页 |
| 2.3.4 膜层剥离 | 第15-16页 |
| 2.3.5 表面及断面的形貌观察和组成分析 | 第16页 |
| 2.3.6 差示扫描量热仪（DSC）分析 | 第16页 |
| 2.3.7 物相分析 | 第16页 |
| 2.3.8 耐蚀性能检测 | 第16-17页 |
| 2.4 本章小结 | 第17-18页 |
| 第3章 等离子体电解氧化膜层物相组成的研究 | 第18-34页 |
| 3.1 电压及火花形貌的变化 | 第18-19页 |
| 3.2 膜层表面形貌及元素分析 | 第19-21页 |
| 3.3 膜层横截面形貌及元素分析 | 第21-23页 |
| 3.4 膜层微断口形貌分析 | 第23-25页 |
| 3.5 膜层/基体界面形貌分析 | 第25-26页 |
| 3.6 膜层的物相组成 | 第26-27页 |
| 3.7 膜层中非晶相的研究 | 第27-33页 |
| 3.7.1 非晶相的DSC分析 | 第27-28页 |
| 3.7.2 非晶相组成的研究 | 第28-32页 |
| 3.7.3 非晶相的位置分布 | 第32-33页 |
| 3.8 本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 超声波频率和功率对PEO膜层耐蚀性的影响 | 第34-55页 |
| 4.1 超声波频率和功率对电压的影响 | 第34-35页 |
| 4.2 超声波频率和功率对膜层厚度的影响 | 第35-36页 |
| 4.3 超声波频率和功率对膜层表面形貌及成分的影响 | 第36-39页 |
| 4.3.1 膜层表面形貌分析 | 第36-38页 |
| 4.3.2 膜层表面元素分布 | 第38-39页 |
| 4.4 超声波频率和功率对膜层横截面形貌及成分的影响 | 第39-44页 |
| 4.4.1 35kHz下不同功率超声波对膜层横截面形貌及成分的影响 | 第39-41页 |
| 4.4.2 53kHz下不同功率超声波对膜层横截面形貌及成分的影响 | 第41-44页 |
| 4.5 超声波的频率和功率对膜层物相组成的影响 | 第44-46页 |
| 4.6 超声波的频率和功率对膜层耐蚀性的影响 | 第46-54页 |
| 4.6.1 等离子体电解氧化膜层的Tafel曲线 | 第46-51页 |
| 4.6.2 等离子体电解氧化膜层的电化学阻抗谱 | 第51-54页 |
| 4.7 本章小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-62页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
