| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| abstract | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第15-17页 |
| 1.1.1 课题的研究背景 | 第15-16页 |
| 1.1.2 表面缺陷检测设备的发展现状 | 第16-17页 |
| 1.1.3 PLC在缺陷检测设备中应用与发展现状 | 第17页 |
| 1.2 PLC与其他工业控制系统的性能比较 | 第17-18页 |
| 1.2.1 PLC与继电器控制比较 | 第17-18页 |
| 1.2.2 PLC与单片机控制比较 | 第18页 |
| 1.2.3 PLC与计算机控制比较 | 第18页 |
| 1.3 论文结构和主要研究内容 | 第18-21页 |
| 1.3.1 论文结构 | 第18-19页 |
| 1.3.2 论文主要研究内容 | 第19-21页 |
| 第二章 缺陷检测设备控制方案分析及设计 | 第21-27页 |
| 2.1 表面缺陷检测设备整体概况 | 第21页 |
| 2.2 缺陷检测设备的电气控制方案 | 第21-23页 |
| 2.3 缺陷检测设备运动控制总体设计 | 第23-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 PLC硬件设计 | 第27-39页 |
| 3.1 实验设备功能需求 | 第27-28页 |
| 3.2 PLC选型及I/O分析 | 第28-29页 |
| 3.3 步进电机机组选型 | 第29-33页 |
| 3.4 硬件连接设计 | 第33-38页 |
| 3.4.1 主电源接线 | 第33-34页 |
| 3.4.2 控制回路接线 | 第34-38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 PLC软件设计 | 第39-54页 |
| 4.1 STEP7-MicroWIN简介 | 第39-40页 |
| 4.2 PLC程序设计 | 第40-53页 |
| 4.2.1 主程序设计 | 第41-43页 |
| 4.2.2 初始化子程序 | 第43-44页 |
| 4.2.3 控制子程序 | 第44-49页 |
| 4.2.4 运行子程序 | 第49-50页 |
| 4.2.5 计数子程序 | 第50-52页 |
| 4.2.6 中断子程序 | 第52-53页 |
| 4.3 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 触摸屏组态设计 | 第54-62页 |
| 5.1 WINCC Flexible简介 | 第54页 |
| 5.1.1SIMATIC HMI简介 | 第54页 |
| 5.1.2 SIMATIC WinCC flexible的集成 | 第54页 |
| 5.2 上位机功能需求 | 第54-55页 |
| 5.3 触摸屏程序设计 | 第55-60页 |
| 5.4 组态软件与下位机通信 | 第60页 |
| 5.5 本章小结 | 第60-62页 |
| 第六章 表面缺陷检测设备调试与实验验证 | 第62-67页 |
| 6.1 硬件调试 | 第62-63页 |
| 6.1.1 驱动器调试 | 第62-63页 |
| 6.1.2 测试HMI设备 | 第63页 |
| 6.2 软件调试 | 第63-65页 |
| 6.3 图像获取结果 | 第65页 |
| 6.4 本章小结 | 第65-67页 |
| 第七章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 7.1 总结 | 第67-68页 |
| 7.2 展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第71-72页 |