摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
1 绪论 | 第8-17页 |
1.1 研究背景 | 第8-9页 |
1.2 国内外研究现状 | 第9-14页 |
1.2.1 空间辐射环境的探索 | 第9-10页 |
1.2.2 立方星可靠性验证技术的发展 | 第10-13页 |
1.2.3 COTS器件与芯片建模语言的发展 | 第13-14页 |
1.3 研究意义和研究内容 | 第14-15页 |
1.4 论文组织结构 | 第15-17页 |
2 空间辐射环境介绍及辐射剂量计算 | 第17-31页 |
2.1 空间辐射环境与辐射效应 | 第17-22页 |
2.1.1 空间辐射环境 | 第17-20页 |
2.1.2 空间辐射环境效应 | 第20-22页 |
2.2 空间辐射剂量计算 | 第22-30页 |
2.2.1 高能粒子通量计算 | 第22-27页 |
2.2.2 总剂量和单粒子翻转率计算 | 第27-30页 |
2.3 本章小结 | 第30-31页 |
3 基于SystemC和OVPsim的器件模型建立 | 第31-51页 |
3.1 星载计算机结构 | 第31-33页 |
3.1.1 单模星载计算机 | 第31-33页 |
3.1.2 带容错设计的星载计算机 | 第33页 |
3.2 建模语言与开发环境搭建 | 第33-35页 |
3.2.1 SystemC TLM介绍 | 第34页 |
3.2.2 虚拟仿真平台OVPsim | 第34页 |
3.2.3 开发运行环境介绍 | 第34-35页 |
3.3 星载计算机模型的建立 | 第35-47页 |
3.3.1 模型总体结构 | 第35-36页 |
3.3.2 主处理器建模 | 第36-38页 |
3.3.3 星上存储模块设计 | 第38-41页 |
3.3.4 星上高速总线设计 | 第41-44页 |
3.3.5 看门狗模块设计 | 第44-45页 |
3.3.6 通用套接字设计 | 第45页 |
3.3.7 通过I2C实现双模冗余 | 第45-47页 |
3.3.8 模型的编译 | 第47页 |
3.4 应用程序的加载 | 第47-49页 |
3.4.1 应用程序 | 第47-49页 |
3.4.2 应用程序的编译和加载 | 第49页 |
3.5 本章小结 | 第49-51页 |
4 基于SystemC和OVPsim的故障建模与注入 | 第51-61页 |
4.1 故障模型的建立 | 第51-54页 |
4.1.1 CPU中故障模型建立 | 第51-53页 |
4.1.2 SRAM内故障模型建立 | 第53页 |
4.1.3 Flash存储设备的故障模型建立 | 第53-54页 |
4.1.4 故障表现形式 | 第54页 |
4.2 故障注入方法 | 第54-60页 |
4.2.1 故障分析器 | 第55-57页 |
4.2.2 故障注入器 | 第57-58页 |
4.2.3 故障观察器 | 第58-60页 |
4.3 本章小结 | 第60-61页 |
5 模型仿真与验证 | 第61-73页 |
5.1 模型的运行与仿真 | 第61-70页 |
5.1.1 快速傅立叶变换 | 第61-66页 |
5.1.2 图像压缩算法 | 第66-69页 |
5.1.3 卡曼滤波算法 | 第69-70页 |
5.2 模型的验证评估 | 第70-72页 |
5.3 本章小结 | 第72-73页 |
6 结论与展望 | 第73-75页 |
6.1 总结 | 第73页 |
6.2 工作展望 | 第73-75页 |
致谢 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-81页 |
附录 | 第81页 |