| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 1 引言 | 第8-15页 |
| ·延伸波长InGaAs红外焦平面及其应用 | 第8页 |
| ·延伸波长InGaAs红外焦平面的发展现状及趋势 | 第8-9页 |
| ·延伸波长InGaAs红外焦平面的发展现状 | 第8-9页 |
| ·延伸波长InGaAs红外焦平面的发展趋势 | 第9页 |
| ·红外焦平面读出电路的概述 | 第9-12页 |
| ·红外焦平面读出电路的研究进展和发展方向 | 第9-11页 |
| ·延伸波长InGaAs用红外焦平面读出电路研究进展 | 第11-12页 |
| ·本论文的研究目的和内容 | 第12-13页 |
| 参考文献 | 第13-15页 |
| 2 延伸波长InGaAs焦平面耦合接.的研究 | 第15-28页 |
| ·红外焦平面读出电路的基本结构 | 第15-20页 |
| ·读出电路的主要性能指标 | 第15-16页 |
| ·几种常用的读出电路输入级结构 | 第16-19页 |
| ·读出电路的其他部分 | 第19-20页 |
| ·延伸波长InGaAs探测器的暗信号和偏置电压的关系 | 第20-22页 |
| ·延伸波长InGaAs耦合接.偏置电压的来源 | 第22-25页 |
| ·抑制暗电流的主要方法 | 第25-27页 |
| ·电流记忆法 | 第25页 |
| ·电压-电流转换电路 | 第25-26页 |
| ·自调零CTIA输入级结构 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27页 |
| 参考文献 | 第27-28页 |
| 3 面阵电路低失调电压研究 | 第28-44页 |
| ·运算放大器的失调电压 | 第28-35页 |
| ·运放失调电压的定义 | 第28页 |
| ·几种常用的运放失调消除技术 | 第28-35页 |
| ·CTIA输入级运放的失调电压的理论分析 | 第35-37页 |
| ·各MOS管尺寸和失调电压的关系仿真 | 第37-40页 |
| ·失调电压的Monte Carlo仿真方法 | 第37页 |
| ·失调电压的仿真结果 | 第37-40页 |
| ·小像元低输入失调电压运放的优化设计方法 | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42页 |
| 参考文献 | 第42-44页 |
| 4 线列Autozero低失调电压读出电路设计 | 第44-57页 |
| ·总体电路结构 | 第44页 |
| ·Autozero结构CTIA输入级设计 | 第44-55页 |
| ·输入级运放的设计 | 第44-45页 |
| ·Autozero结构CTIA输入级设计 | 第45-49页 |
| ·开关的设计与仿真 | 第49-51页 |
| ·采样电容CSH对失调电压的影响 | 第51-52页 |
| ·反相器的设计 | 第52页 |
| ·Autozero型CTIA输入级仿真 | 第52-54页 |
| ·移位寄存器仿真 | 第54-55页 |
| ·10元Autozero型读出电路的整体设计与仿真 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 5 10元Autozero型读出电路测试与分析 | 第57-65页 |
| ·读出电路基本功能测试 | 第57页 |
| ·与 1.7μm常规InGaAs光敏芯片耦合后的测试 | 第57-61页 |
| ·和 2.5μm延伸波长InGaAs光敏芯片耦合后的测试 | 第61-64页 |
| ·测试结果分析与讨论 | 第64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 6 总结与展望 | 第65页 |
| ·总结 | 第65页 |
| ·展望 | 第65页 |
