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介质微结构与未来磁记录方式中记录过程的微磁学研究

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
主要符号对照表第8-10页
第1章 绪论第10-36页
   ·硬盘工业及记录介质的回顾第10-15页
   ·磁记录方式的发展趋势第15-26页
     ·记录密度继续提高的困境第15-17页
     ·未来可能的几种磁记录方式第17-24页
     ·支撑更高记录密度的介质第24-26页
   ·微磁学理论的简要介绍第26-34页
     ·LLG 方程和有效场第27-28页
     ·Stoner-Wohlfarth 模型及动态反转第28-33页
     ·介质微结构的模拟第33-34页
   ·本文的主要研究内容第34-36页
第2章 FePt 纳米孪晶颗粒的磁晶各向异性分布第36-47页
   ·本章引论第36页
   ·纳米孪晶颗粒的磁晶各向异性场模型第36-40页
     ·纳米颗粒中孪晶结构的实验观察第36-38页
     ·磁晶各向异性场模型的建立第38-40页
     ·孪晶颗粒中磁晶各向异性场的分布第40页
   ·孪晶对磁晶各向异性场分布及磁记录性能的影响第40-45页
     ·五重孪晶结构的磁晶各向异性场分布第40-43页
     ·三重或七重结构的磁晶各向异性场分布第43-45页
     ·孪晶结构对磁记录性能的影响第45页
   ·本章小结第45-47页
第3章 ECC 介质及叠层瓦片式磁记录的研究第47-71页
   ·本章引论第47页
   ·ECC 介质的反转特性研究第47-58页
     ·双颗粒模型第48-49页
     ·反常反转及阻尼因子对反转的影响第49-53页
     ·软/硬磁颗粒之间交换作用场 Hex对反转的影响第53-56页
     ·软磁颗粒磁晶各向异性场 Hk2对反转的影响第56页
     ·软磁颗粒体积 V2与饱和磁化强度 Ms2对反转的影响第56-58页
   ·叠层瓦片式磁记录过程的研究第58-69页
     ·介质信噪比的定义第58-60页
     ·ECC 介质和传统垂直薄膜介质的模拟参数第60-61页
     ·单极型写磁头场的模拟第61-62页
     ·叠层瓦片式磁记录的写入过程模拟第62-63页
     ·ECC 介质和传统垂直薄膜介质的记录密度极限第63-65页
     ·磁道宽度和比特长度对信噪比的影响第65-66页
     ·优化的介质参数第66-69页
   ·本章小结第69-71页
第4章 比特图形磁记录过程的研究第71-89页
   ·本章引论第71-72页
   ·光刻法制备 BPM 介质的磁记录过程模拟第72-81页
     ·单极型写磁头和介质的微磁学模拟第72-75页
     ·BPM 介质的可写入性分析第75-76页
     ·BPM 介质的记录过程模拟第76-81页
   ·离子辐照法制备 BPM 介质的磁记录过程模拟第81-85页
     ·离子辐照法制备 BPM 介质的模拟第81页
     ·被辐照区域的磁性质对正确写入的影响第81-85页
   ·离子辐照法制备 BPM 介质的记录密度极限第85-88页
   ·本章小结第88-89页
第5章 结论第89-91页
参考文献第91-100页
致谢第100-102页
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果第102页

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