BESIII主漂移室性能研究以及数据质量监测
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-15页 |
| ·北京谱仪 | 第11-12页 |
| ·主漂移室(MDC) | 第12-14页 |
| ·论文结构 | 第14-15页 |
| 第二章 BESⅢ主漂移室性能研究 | 第15-26页 |
| ·空间分辨 | 第15-17页 |
| ·动量分辨 | 第17页 |
| ·击中效率 | 第17-18页 |
| ·e~+e~-寻迹效率 | 第18-20页 |
| ·噪声水平 | 第20-26页 |
| ·本底和电子学噪声 | 第20-22页 |
| ·噪声率的定义 | 第22页 |
| ·噪声水平变化规律 | 第22-26页 |
| 第三章 数据质量监测 | 第26-49页 |
| ·噪声水平监测 | 第26-31页 |
| ·噪声水平总体情况 | 第26-27页 |
| ·不同噪声水平的Run | 第27-28页 |
| ·不同噪声水平的Run的击中效率对比 | 第28-30页 |
| ·不同噪声水平的Run的寻迹效率对比 | 第30-31页 |
| ·空间分辨和动量分辨监测 | 第31-39页 |
| ·空间分辨和动量分辨总体情况 | 第31-35页 |
| ·分辨变差原因研究 | 第35-37页 |
| ·TDC分布异常 | 第37-39页 |
| ·Bhabha事例重建效率监测 | 第39-42页 |
| ·击中效率监测 | 第42-44页 |
| ·对撞顶点的z向坐标 | 第44-46页 |
| ·异常run汇总 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 第四章 工作高压丢失(trip)研究 | 第49-61页 |
| ·工作高压trip机制 | 第49页 |
| ·工作高压trip总体情况 | 第49-51页 |
| ·慢控制网页的改进 | 第51页 |
| ·事例异常分布情况 | 第51-53页 |
| ·工作高压trip时间的确定方法 | 第53-56页 |
| ·MdcTripSvc软件包 | 第56-60页 |
| ·事例时间分布的改善 | 第57-58页 |
| ·击中效率的提高 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 结论 | 第61-62页 |
| 附录A 时间格式的转换 | 第62-64页 |
| 附录B MdcTripSvc软件包的使用方法 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 发表文章目录 | 第72页 |
