基于SAT的数字电路测试生成算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·研究的背景及意义 | 第9-10页 |
| ·数字电路测试生成技术研究现状 | 第10-12页 |
| ·基于电路结构的测试生成方法 | 第11页 |
| ·基于代数运算的测试生成方法 | 第11-12页 |
| ·主要研究内容 | 第12-13页 |
| ·论文组织结构 | 第13-14页 |
| 第2章 数字电路故障模型及测试生成技术 | 第14-27页 |
| ·数字电路故障测试概述 | 第14-17页 |
| ·故障和故障模型 | 第14-15页 |
| ·组合电路的故障测试 | 第15-16页 |
| ·时序电路的故障测试 | 第16-17页 |
| ·组合电路测试生成算法 | 第17-22页 |
| ·D 算法 | 第17-18页 |
| ·PODEM 算法 | 第18-19页 |
| ·FAN 算法 | 第19-21页 |
| ·布尔差分方法 | 第21-22页 |
| ·基于 BDD 的测试生成方法 | 第22页 |
| ·基于 SAT 的测试生成方法 | 第22-26页 |
| ·miter 电路构造及 CNF 产生 | 第23-25页 |
| ·SAT 求解算法概述 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 面向 ATPG 的 SAT 求解算法研究 | 第27-47页 |
| ·基于 DPLL 的 SAT 求解算法 | 第27-32页 |
| ·经典 DPLL 算法 | 第27-29页 |
| ·基于可观无关性的改进 DPLL 算法 | 第29-32页 |
| ·局部搜索算法 | 第32-36页 |
| ·随机搜索算法 | 第32-33页 |
| ·启发式贪心搜索(GWALK)算法 | 第33-35页 |
| ·仿真实验结果 | 第35-36页 |
| ·基于遗传算法的 SAT 求解 | 第36-46页 |
| ·遗传算法基本过程 | 第36-42页 |
| ·基于遗传算法的 SAT 求解器设计 | 第42-45页 |
| ·仿真实验结果 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 基于混合遗传算法的 SAT 求解研究 | 第47-59页 |
| ·启发式遗传算法 | 第47-50页 |
| ·基本的 SKC 算法 | 第47-48页 |
| ·嵌入 SKC 的变异策略 | 第48-50页 |
| ·面向 SAT 的遗传算子改进 | 第50-57页 |
| ·适应度值计算 | 第50-51页 |
| ·选择策略 | 第51-54页 |
| ·基于子句权重调整的交叉策略 | 第54-57页 |
| ·仿真实验结果 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及取得的科研成果 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
