| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-10页 |
| 第二章 超导材料概论 | 第10-34页 |
| ·超导材料的产生 | 第10-12页 |
| ·超导材料的性质 | 第12-17页 |
| ·基本性质 | 第12-17页 |
| ·零电阻 | 第12-14页 |
| ·迈斯纳效应 | 第14-15页 |
| ·临界磁场 H_c | 第15-16页 |
| ·临界电流 I_c | 第16-17页 |
| ·同位素效应 | 第17页 |
| ·超导理论的发展 | 第17-22页 |
| ·低温超导的理论机制 | 第17-19页 |
| ·二流体唯象模型 | 第17-18页 |
| ·BCS理论 | 第18-19页 |
| ·高温超导的理论机制 | 第19-22页 |
| ·极化子-双极化子模型 | 第20页 |
| ·激子模型 | 第20-21页 |
| ·自旋涨落模型 | 第21页 |
| ·RVB理论 | 第21页 |
| ·Luttinger液体理论 | 第21页 |
| ·反铁磁自旋配对理论 | 第21-22页 |
| ·U(1)及SO(5)理论 | 第22页 |
| ·几种典型的超导材料 | 第22-27页 |
| ·高温超导 | 第23-24页 |
| ·La-Ba(Sr)-Cu-O体系 | 第23页 |
| ·Y-Ba-Cu-O体系 | 第23页 |
| 2 4.1.3 Bi-Sr-Ca-Cu-O体系 | 第23-24页 |
| ·Tl-Ba-Ca-Cu-O体系 | 第24页 |
| ·Hg-Ba-Ca-Cu-O体系 | 第24页 |
| ·MgB_2系列超导材料 | 第24-26页 |
| ·有机超导材料 | 第26-27页 |
| ·钴氧化物 | 第27页 |
| ·超导材料的应用及展望 | 第27-33页 |
| ·超导量子干涉计(SQUID) | 第28页 |
| ·超导计算机 | 第28-29页 |
| ·超导电磁推进和磁悬浮装置 | 第29-30页 |
| ·超导电磁推进系统 | 第29-30页 |
| ·超导磁悬浮装置 | 第30页 |
| ·超导磁能存储(SMES) | 第30-31页 |
| ·核聚变反应堆“磁封闭体” | 第31页 |
| ·高温超导薄膜 | 第31页 |
| ·超导输电线路 | 第31-32页 |
| ·超导天线 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 BSCCO超导材料的制备 | 第34-47页 |
| ·引言 | 第34-37页 |
| ·BSCCO超导材料基本性质 | 第34-35页 |
| ·BSCCO超导材料的应用 | 第35-36页 |
| ·BSCCO超导材料的制备方法 | 第36-37页 |
| ·干法制备 | 第36-37页 |
| ·湿法制备 | 第37页 |
| ·实验部分 | 第37-38页 |
| ·试剂与原料 | 第37页 |
| ·实验设备 | 第37-38页 |
| ·(Bi,Pb)-2223超导体的制备 | 第38页 |
| ·样品性能测试 | 第38-42页 |
| ·临界转变温度(T_c)测量 | 第38-41页 |
| ·低温实验物理的特点 | 第38-39页 |
| ·四引线测量法 | 第39页 |
| ·铂电阻和硅二极管测量电路 | 第39-40页 |
| ·超导样品测量电路 | 第40页 |
| ·测试仪器 | 第40-41页 |
| ·XRD分析及磁悬浮力测试 | 第41-42页 |
| ·结果与讨论 | 第42-45页 |
| ·XRD分析 | 第42-43页 |
| ·临界转变温度(T_c)测试 | 第43-44页 |
| ·样品表面SEM | 第44页 |
| ·磁悬浮力测试 | 第44-45页 |
| ·影响因素分析 | 第45-46页 |
| ·烧结温度的影响 | 第45页 |
| ·升温速率的影响 | 第45-46页 |
| ·预烧次数的影响 | 第46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 BSCCO超导体中均匀排布 ZnO缺陷的纳米复合制备 | 第47-60页 |
| ·引言 | 第47-48页 |
| ·实验部分 | 第48-49页 |
| ·试剂与原料 | 第48页 |
| ·实验设备 | 第48页 |
| ·(Bi,Pb)-2223超导体的制备 | 第48页 |
| ·ZnO纳米溶胶体系的制备 | 第48-49页 |
| ·掺杂样品的制备 | 第49页 |
| ·ZnO纳米溶胶掺杂样品的制备 | 第49页 |
| ·ZnO纳米颗粒掺杂样品的制备 | 第49页 |
| ·结果与讨论 | 第49-58页 |
| ·样品XRD分析 | 第49-50页 |
| ·超导体临界温度转变曲线 | 第50-55页 |
| ·掺杂方法对超导体电性能影响 | 第50-51页 |
| ·掺杂量对超导体电性能影响 | 第51-53页 |
| ·烧结时间对超导体电性能影响 | 第53-54页 |
| ·烧结温度对超导体电性能影响 | 第54-55页 |
| ·样品SEM分析 | 第55-58页 |
| ·掺杂方法对 ZnO缺陷排布的影响 | 第55-57页 |
| ·掺杂量对 ZnO缺陷排布的影响 | 第57-58页 |
| ·烧结时间对 ZnO缺陷排布的影响 | 第58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 全文总结 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 攻读硕士期间完成的论文 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |