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半导体分立器件测试仪中SOPC的应用研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-10页
第一章 绪论第10-20页
   ·课题背景第10-13页
     ·SOPC 概述第10-12页
     ·半导体分立器件测试仪概述第12-13页
   ·课题研究的意义第13-14页
   ·SOPC 架构的半导体分立器件测试仪第14-18页
     ·SOPC 架构的应用特性第14-15页
     ·SOPC 架构对比ARM 架构的优势第15-17页
     ·SOPC 架构的半导体分立器件测试仪的整体方案第17-18页
   ·本文的主要任务第18-20页
第二章 测试仪的SOPC 系统组建方案分析第20-31页
   ·半导体分立器件测试系统的功能分析第20-22页
     ·系统的测试对象第20页
     ·系统的硬件需求第20-21页
     ·测试系统的测试过程第21-22页
   ·IP 核简介第22-23页
   ·SOPC 系统的方案分类第23-26页
     ·基于FPGA 植入IP 硬核的SOPC 系统第23-24页
     ·FPGA 中植入IP 软核的SOPC 系统第24-25页
     ·应用HardCopy 的SOPC 系统第25-26页
   ·组建软核SOPC 的方法简介第26-27页
   ·半导体分立器件测试仪中SOPC 系统的外围电路第27-31页
     ·SOPC 的时钟电路第27-28页
     ·UART 串口电路第28-29页
     ·电源电路第29页
     ·AS 模式下载电路第29-31页
第三章 测试仪代码和数据的存储第31-39页
   ·半导体分立器件测试仪的存储需求分析第31页
   ·测试仪程序代码的执行方式第31-34页
   ·测试仪数据的存储方式第34-36页
   ·测试仪的外部存储器设计第36-39页
     ·SDRAM 外部存储器第36-37页
     ·Flash 外部存储器第37-39页
第四章 测试仪SOPC 系统的内部软核设计第39-60页
   ·半导体分立器件测试仪的软核SOPC 系统需求分析第39-40页
   ·处理器的植入第40-41页
     ·NIOS Ⅱ 软核处理器性能参数第40-41页
     ·NIOS Ⅱ 处理器的植入第41页
   ·半导体分立器件测试仪总线接口设计第41-53页
     ·Avalon 总线简介第41-45页
     ·半导体分立器件测试仪总线第45页
     ·自定义转换逻辑IP 核功能分析第45-46页
     ·自定义IP 核verilog HDL 程序的编写第46-50页
     ·自定义IP 核的封装与调用第50-52页
     ·半导体分立器件测试仪总线的地址分配第52-53页
   ·测试仪SOPC 系统串口控制内核设计第53-55页
     ·UART 内核控制器简介第53-54页
     ·UART 内核设计第54-55页
   ·测试仪的存储器控制内核设计第55-58页
     ·SDRAM 内核设计第55-57页
     ·Flash 内核设计第57-58页
   ·测试仪SOPC 系统模块的生成第58-60页
第五章 驱动程序设计第60-79页
   ·半导体分立器件测试仪的软件层次结构第60页
   ·测试仪总线接口驱动设计第60-62页
     ·测试仪总线写函数的编写第61-62页
     ·测试仪总线读函数的编写第62页
   ·测试仪的测试程序第62-65页
     ·测试驱动函数第62-63页
     ·测试程序的设计第63-65页
   ·测试仪通信串口的驱动设计第65-69页
     ·UART 内核初始化函数的编写第66-67页
     ·字节发送函数的编写第67-69页
   ·测试程序的下载第69-70页
   ·测试结果的上传第70-71页
   ·Flash 存取驱动编写第71-79页
     ·Flash 存取方式分析第71-72页
     ·驱动设计第72-79页
第六章 调试及结论第79-83页
   ·串口仿真调试第79-82页
     ·串口调试的设置第79-80页
     ·串口调试第80-82页
   ·结论第82-83页
致谢第83-84页
参考文献第84-87页
读研期间取得的成果第87-88页

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