摘要 | 第1-3页 |
Abstract | 第3-7页 |
第一章 电源管理集成电路 | 第7-19页 |
·电源管理半导体 | 第7-10页 |
·电源转换技术简介 | 第10-12页 |
·线性稳压电源——LDO(低压降稳压器) | 第11页 |
·电容式开关稳压电源(Charge Pump) | 第11-12页 |
·电感式开关稳压电源 | 第12页 |
·电感式拓扑基本结构 | 第12-18页 |
·电感式降压(Buck)转换电路拓扑 | 第13-16页 |
·电感式升压(Boost)转换电路拓扑 | 第16页 |
·电感式升降压(Buck-Boost)转换电路拓扑 | 第16-18页 |
参考文献(第一章): | 第18-19页 |
第二章 Buck DC-DC转换器系统分析 | 第19-36页 |
·线性稳压电源——开关电源(电感式)原型 | 第19-20页 |
·开关电源(电感式)控制方式 | 第20-25页 |
·电压模式 | 第20-21页 |
·电流模式 | 第21-25页 |
·电流模式控制原理 | 第25页 |
·电流模式存在缺点 | 第25-29页 |
·电感峰值电流与平均电流的误差 | 第26-27页 |
·次谐波振荡→开环不稳定性 | 第27-29页 |
·电流模式的斜坡补偿 | 第29-31页 |
·用斜坡补偿消除不同占空比对平均电感电流的影响 | 第29页 |
·消除开环不稳定性 | 第29-30页 |
·提高电流检测精度 | 第30-31页 |
·外围无源器件参数确定 | 第31页 |
·Buck DC-DC转换器系统稳定性分析 | 第31-35页 |
·电压模式下的系统稳定性 | 第32页 |
·电流模式下的系统稳定性 | 第32-35页 |
参考文献(第二章) | 第35-36页 |
第三章 DC-DC转换器性能分析 | 第36-51页 |
·DC-DC转换器效率计算 | 第36-37页 |
·线性稳压器的效率 | 第36-37页 |
·Buck开关稳压器的效率 | 第37页 |
·DC-DC转换器工作模式 | 第37-40页 |
·同步整流技术 | 第40-41页 |
·功率管设计经验 | 第41-46页 |
·DC-DC转换器性能指标 | 第46-48页 |
·功率集成电路(Power IC) | 第48-50页 |
参考文献(第三章): | 第50-51页 |
第四章 芯片流片电路设计 | 第51-103页 |
·电流模式BUCK DC-DC转换器工作框图 | 第51-52页 |
·芯片主要模块的设计与仿真 | 第52-74页 |
·基准电压源设计仿真 | 第52-55页 |
·误差放大器(EA)设计仿真 | 第55-61页 |
·时钟(Clock)设计仿真 | 第61-65页 |
·电流采样模块(Current Sense)设计仿真 | 第65-68页 |
·斜坡补偿(Slope Compensation)模块设计仿真 | 第68-70页 |
·PWM模块设计仿真 | 第70-72页 |
·逻辑控制模块设计仿真 | 第72-74页 |
·PWM/PFM模块设计仿真 | 第74页 |
·辅助电路设计仿真 | 第74-82页 |
·软启动电路(Soft Start) | 第74-76页 |
·电流限制电路(Current Limit) | 第76-77页 |
·零电流检测电路(Zero Current Detect) | 第77-78页 |
·输出过/欠压保护(Over/Under Voltage Protect) | 第78页 |
·输入过/欠压保护(Input Over/Under Voltage Protect) | 第78页 |
·过热保护(Thermal Protect) | 第78-80页 |
·死区时间控制电路(Dead Time Control) | 第80-81页 |
·抗振铃电路(Ringing Clamping) | 第81-82页 |
·外部数字控制电压检测电路(Enable Detect) | 第82页 |
·整体系统仿真 | 第82-99页 |
·Buck拓扑仿真 | 第82-86页 |
·电压模式系统仿真 | 第86-91页 |
·电流模式系统仿真 | 第91-96页 |
·B、C情况的电流系统仿真 | 第96-98页 |
·电流模式系统仿真(加以必需的数字控制信号) | 第98-99页 |
·系统转换效率计算 | 第99-101页 |
参考文献(第四章): | 第101-103页 |
第五章 芯片最终流片及测试 | 第103-121页 |
·管脚定义 | 第103-106页 |
·版图反向提取经验及版图绘制 | 第106-114页 |
·版图反向提取 | 第106-108页 |
·版图绘制考虑因素 | 第108-110页 |
·本设计绘制版图 | 第110-113页 |
·版图验证和后模拟 | 第113-114页 |
·测试 | 第114-120页 |
·芯片简介 | 第114-115页 |
·测试电路 | 第115-116页 |
·测试结果 | 第116-120页 |
参考文献(第五章): | 第120-121页 |
回顾与展望 | 第121-122页 |
研究生在读期间发表文章: | 第122-123页 |
致谢 | 第123页 |