太赫兹应用技术研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-10页 |
| 1．1 太赫兹技术的产生与意义 | 第6-7页 |
| 1．2 太赫兹技术现状与主要应用领域 | 第7-9页 |
| 1．3 本文的主要研究工作 | 第9-10页 |
| 第二章 太赫兹辐射的产生与探测 | 第10-28页 |
| 2．1 宽频太赫兹辐射的产生 | 第10-15页 |
| 2．1．1 光电导产生宽频THz | 第10-12页 |
| 2．1．2 从半导体表面产生宽频THz | 第12-13页 |
| 2．1．3 光整流产生宽频THz | 第13-14页 |
| 2．1．4 利用非线性发射线产生宽频THz | 第14-15页 |
| 2．2 窄频太赫兹辐射的产生 | 第15-22页 |
| 2．2．1 基于光混频产生窄频THz | 第16-17页 |
| 2．2．2 利用光参量变换产生窄频THz | 第17-18页 |
| 2．2．3 利用电子装置产生窄频THz | 第18-20页 |
| 2．2．4 利用半导体激光器产生窄频THz | 第20-22页 |
| 2．3 太赫兹辐射的探测 | 第22-25页 |
| 2．3．1 探测超短电脉冲 | 第22-23页 |
| 2．3．2 外差法探测连续波THz | 第23-25页 |
| 2．4 太赫兹辐射的传送 | 第25-28页 |
| 2．4．1 准光学技术 | 第25页 |
| 2．4．2 波导技术 | 第25-28页 |
| 第三章 太赫兹时域光谱技术 | 第28-42页 |
| 3．1 太赫兹光谱技术的基本知识 | 第28-31页 |
| 3．1．1 分子与光谱 | 第28-29页 |
| 3．1．2 太赫兹光谱特征 | 第29-30页 |
| 3．1．3 太赫兹光谱技术的不同方法 | 第30-31页 |
| 3．2 太赫兹时域光谱技术的特点 | 第31-32页 |
| 3．3 太赫兹时域光谱技术的各种机制 | 第32-37页 |
| 3．3．1 时间域THz透射光谱学(TDTTS) | 第33-35页 |
| 3．3．2 时间域THz反射光谱学(TDTRS) | 第35页 |
| 3．3．3 时间域THz发射光谱学(TDTES) | 第35-36页 |
| 3．3．4 光抽运THz探测光谱学(OPTP) | 第36-37页 |
| 3．4 太赫兹时域光谱技术的两个问题研究 | 第37-42页 |
| 3．4．1 从THz波形中提取样本参数的仿真研究 | 第37-39页 |
| 3．4．2 反射光谱法中的误差分析与改进方法研究 | 第39-42页 |
| 第四章 太赫兹CT技术与红外模拟系统 | 第42-62页 |
| 4．1 太赫兹成像技术简介 | 第42-43页 |
| 4．2 太赫兹CT技术的理论基础 | 第43-50页 |
| 4．2．1 CT技术概述 | 第43-44页 |
| 4．2．2 THz成像的基本波动方程 | 第44-46页 |
| 4．2．3 X射线CT的理论模型 | 第46-47页 |
| 4．2．4 太赫兹CT的理论模型 | 第47-50页 |
| 4．3 太赫兹CT成像研究 | 第50-55页 |
| 4．3．1 成像系统设计 | 第50-52页 |
| 4．3．2 二维成像 | 第52-53页 |
| 4．3．3 图像分辨率 | 第53-55页 |
| 4．4 红外模拟系统 | 第55-62页 |
| 4．4．1 扫描模型 | 第55-56页 |
| 4．4．2 系统构成 | 第56-57页 |
| 4．4．3 重建算法 | 第57-62页 |
| 第五章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 5．1 研究工作总结 | 第62页 |
| 5．2 研究工作展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
