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沉积温度对氟化非晶碳薄膜结构和性质的影响

中文摘要第1-4页
英文摘要第4-6页
第一章 绪论第6-16页
   ·低K介电材料的研究背景第6-8页
   ·a-C:F薄膜研究现状第8-13页
   ·本研究小组有关a-C:F薄膜的研究第13-15页
   ·本文研究的主要内容第15-16页
第二章 a-C:F薄膜的制备方法及工艺参数第16-21页
   ·微波电子回旋共振等离子体化学气相沉积(ECRCVD)薄膜的原理简介第16-18页
   ·a-C:F薄膜的制备方法第18-21页
第三章 a-C:F薄膜结构及物性随沉积温度的变化第21-48页
   ·沉积温度对薄膜沉积速率和热稳定性的影响第21-23页
   ·键结构随沉积温度的变化关系第23-30页
   ·薄膜的XPS分析第30-36页
   ·薄膜的光学带隙和C=C相对含量随沉积温度的变化第36-41页
   ·沉积温度对a-C:F薄膜电学性能的影响第41-44页
   ·不同温度下快退火对薄膜结构和介电频谱与损耗的影响第44-48页
第四章 结论第48-50页
参考文献第50-54页
附录: 攻读硕士学位期间公开发表的论文第54-55页
致谢第55页

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