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图形反走样算法及其硬件模型研究

中文摘要第1-6页
英文摘要第6-7页
概论第7-10页
 0.1 课题来源第7页
 0.2 反走样算法现状第7-8页
 0.3 可编程器件概述第8-9页
 0.4 本文研究的图形反走样算法和硬件实现第9-10页
第一章 走样的理论分析第10-23页
 1.1 二维图象分析第10-13页
  1.1.1 采样和量化第10页
  1.1.2 二维采样定理第10-12页
  1.1.3 二维滤波第12-13页
 1.2 混叠现象第13-14页
 1.3 消除图形失真(反走样)的一些方法第14-16页
 1.4 图形反走样第16-22页
  1.4.1 基于边缘提取和模板匹配的反走样算法第16-20页
  1.4.2 多像素宽度图形处理第20-21页
  1.4.3 彩色处理第21-22页
   (a) 彩色预处理第21页
   (b) 彩色后处理第21-22页
 1.5 反走样算法的运算过程第22-23页
第二章 硬件设计概述第23-27页
 2.1 概述第23页
 2.2 数字系统第23-24页
 2.3 数字系统的流水线设计第24-26页
 2.4 反走样算法的硬件设计概述第26-27页
第三章 彩色预处理单元第27-37页
 3.0 概述第27页
 3.1 地址发生单元第27-30页
 3.2 数据读入锁存单元第30页
 3.3 基色处理单元第30-32页
 3.4 三基色综合单元第32-33页
 3.5 控制单元第33-37页
第四章 轮廓提取单元第37-42页
 4.0 轮廓提取的原理框架第37页
 4.1 输入缓冲单元第37-38页
 4.2 轮廓提取单元第38-39页
 4.3 轮廓输出缓冲单元第39-40页
 4.4 像素存储单元第40页
 4.5 控制单元第40-42页
第五章 模板匹配单元第42-51页
 5.0 概述第42页
 5.1 数据输入分配单元第42-44页
 5.2 匹配单元第44-47页
  5.2.1 MAX单元第45页
  5.2.2 MTOS单元第45-47页
 5.3 控制单元第47-51页
  5.3.1 MAX单元控制器第48-49页
  5.3.2 MTOS单元控制器第49-51页
第六章 彩色后处理单元及像素数据缓冲单元第51-57页
 6.1 彩色后处理单元第51-55页
  6.1.0 概述第51页
  6.1.1 地址发生器第51-52页
  6.1.2 SEL1单元第52页
  6.1.3 基色转换单元第52-54页
  6.1.4 COUNT单元第54页
  6.1.5 系统控制单元第54-55页
 6.2 像素数据缓冲单元第55-57页
第七章 设计结果及今后的工作第57-61页
 7.1 算法的MATLAB仿真第57-59页
  7.1.1 直线的反走样仿真第57页
  7.1.2 曲线的反走样仿真第57页
  7.1.3 圆和椭圆的反走样仿真第57-58页
  7.1.4 大字符的反走样仿真第58页
  7.1.5 像素放大第58-59页
 7.2 硬件模型第59-60页
 7.3 今后的工作第60-61页
结束语第61-62页
致谢第62-63页
在校期间发表论文第63-64页
参考文献第64页

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