| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| ·背景 | 第9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-14页 |
| ·覆层厚度测量方法概述 | 第9-14页 |
| ·研究现状 | 第14页 |
| ·课题学术意义和应用价值 | 第14-15页 |
| 2 微球覆层厚度测量方法的数学模型 | 第15-73页 |
| ·X射线与物质的相互作用 | 第15-16页 |
| ·衍射法模型的建立 | 第16-30页 |
| ·基本假设 | 第16-17页 |
| ·符号说明 | 第17页 |
| ·对衍射现象的分析 | 第17-19页 |
| ·无覆层平板样的衍射模型 | 第19-20页 |
| ·有覆层平板样的基体衍射模型 | 第20-21页 |
| ·有覆层平板样的覆层衍射模型 | 第21-22页 |
| ·微球的几何模型 | 第22-25页 |
| ·无覆层微球的衍射模型 | 第25页 |
| ·有覆层微球的基体衍射模型 | 第25-26页 |
| ·有覆层微球的覆层衍射模型 | 第26页 |
| ·X射线衍射模型的求解 | 第26-28页 |
| ·利用模型的结果计算覆层厚度 | 第28-30页 |
| ·荧光X射线法模型的建立 | 第30-37页 |
| ·符号说明 | 第30页 |
| ·微元的荧光X射线 | 第30-31页 |
| ·无覆层平板样的荧光X射线激发 | 第31-32页 |
| ·有覆层平板样的基体荧光X射线模型 | 第32-33页 |
| ·有覆层平板样的覆层荧光X射线法 | 第33页 |
| ·有覆层平板样的基体-覆层荧光X射线综合法 | 第33页 |
| ·基体中某种元素二次荧光的产生与计算 | 第33-34页 |
| ·基体、覆层相互作用产生的二次荧光X射线强度的计算 | 第34-35页 |
| ·荧光X射线模型的求解 | 第35-37页 |
| ·模型的计算机实现 | 第37-73页 |
| ·几何模型 | 第38-52页 |
| ·用于模型的几何模型 | 第52-55页 |
| ·物理量的计算机表示 | 第55-63页 |
| ·元素周期表 | 第63-69页 |
| ·物理参数数据库 | 第69-72页 |
| ·衍射模型 | 第72页 |
| ·荧光模型 | 第72-73页 |
| 3 X射线衍射法和荧光X射线法测量微球覆层厚度 | 第73-95页 |
| ·试样的制备 | 第73-74页 |
| ·制备方法的选取 | 第73页 |
| ·铁基体上的化学镀镍磷合金 | 第73-74页 |
| ·金相法测量覆层厚度 | 第74-81页 |
| ·测量步骤 | 第74-75页 |
| ·对微球镀层厚度的校正 | 第75-76页 |
| ·测量结果 | 第76-81页 |
| ·X射线衍射法测量微球 | 第81-90页 |
| ·测量方式 | 第81-82页 |
| ·测量结果 | 第82-90页 |
| ·荧光法测量 | 第90-92页 |
| ·测量方式 | 第90-91页 |
| ·测量结果 | 第91-92页 |
| ·几种方法的比较 | 第92-95页 |
| 4 结论 | 第95-97页 |
| 致谢 | 第97-99页 |
| 参考文献 | 第99-103页 |
| 附录 | 第103-128页 |
| A.作者在攻读硕士学位期间发表论文情况 | 第103页 |
| B.类XRay的代码 | 第103-106页 |
| C.元素周期表数据库XML文件的定义 | 第106-108页 |
| D.元素对X射线的质量吸收系数、质量吸收系数数据库XML文件定义 | 第108-109页 |
| E.元素跃迁能量数据库XML文件定义 | 第109页 |
| F.计算微球衍射线强度的部分代码 | 第109-112页 |
| G.计算微球荧光X射线强度的部分代码 | 第112-128页 |