| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| ·微电子技术的发展现状 | 第9-11页 |
| ·选题背景与意义 | 第11-13页 |
| ·混频器的研究现状 | 第13-14页 |
| ·本文框架与所做的工作 | 第14-16页 |
| 第2章 混频器概述与参数分析 | 第16-24页 |
| ·混频器概述 | 第16-17页 |
| ·混频器的主要参数 | 第17-24页 |
| ·增益 | 第18页 |
| ·噪声 | 第18-19页 |
| ·线性范围 | 第19-20页 |
| ·失真 | 第20-21页 |
| ·口间隔离 | 第21-22页 |
| ·阻抗匹配 | 第22-24页 |
| 第3章 基于Gilbert 结构的低压混频器设计分析 | 第24-40页 |
| ·Gilbert 混频器 | 第24-27页 |
| ·基于Gilbert 结构的低压混频器的设计 | 第27-31页 |
| ·基于 Gilbert 结构低压混频器的设计瓶颈 | 第31-40页 |
| ·开关导通电阻对Gilbert 低压混频器性能的影响 | 第32-36页 |
| ·时钟馈通效应对Gilbert 低压混频器性能的影响 | 第36-40页 |
| 第4章 开关跨导混频器的设计 | 第40-53页 |
| ·MOS 器件的高阶效应以及栅氧可靠性 | 第40-42页 |
| ·MOS 器件中的热载流子效应 | 第40-41页 |
| ·栅氧击穿 | 第41-42页 |
| ·开关跨导混频器的设计 | 第42-47页 |
| ·传统开关实现方式与本振端控制电压损失 | 第42-44页 |
| ·开关跨导混频器的电路设计 | 第44-47页 |
| ·折叠级联输出开关跨导混频器的设计 | 第47-53页 |
| 第5章 两种结构低压混频器的性能研究与对比 | 第53-70页 |
| ·隔离度性能分析与对比 | 第53-56页 |
| ·转换增益性能分析与对比 | 第56-58页 |
| ·噪声性能分析与对比 | 第58-64页 |
| ·线性度性能分析与对比 | 第64-70页 |
| 第6章 电路仿真与对比 | 第70-79页 |
| 结论 | 第79-82页 |
| 全文总结 | 第79-80页 |
| 本文主要工作及创新点 | 第80-81页 |
| 后续工作建议 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第86页 |
