高可靠8051设计与实现及可靠性评估
| 摘要 | 第1-13页 |
| ABSTRACT | 第13-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-22页 |
| ·课题研究背景 | 第15-16页 |
| ·课题研究现状 | 第16-18页 |
| ·国外微处理器可靠性设计技术研究和发展概况 | 第16-18页 |
| ·国内微处理器可靠性设计技术研究和发展概况 | 第18页 |
| ·课题研究内容 | 第18-20页 |
| ·课题研究的内容 | 第18-20页 |
| ·课题研究的难点和创新点 | 第20页 |
| ·论文结构 | 第20-22页 |
| 第二章 单粒子效应及故障注入模拟 | 第22-29页 |
| ·单粒子效应产生的环境 | 第22-24页 |
| ·单粒子效应的产生机理 | 第24-25页 |
| ·单粒子效应分类 | 第24-25页 |
| ·单粒子翻转机理 | 第25页 |
| ·单粒子翻转效应对微处理器的影响 | 第25-27页 |
| ·SEU对时序电路的影响 | 第25-26页 |
| ·SEU对组合电路的影响 | 第26-27页 |
| ·SEU对时钟复位网络的影响 | 第27页 |
| ·单粒子翻转事件的故障注入模拟 | 第27-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第三章 高可靠性8051设计关键技术研究 | 第29-38页 |
| ·增强型时空三模冗余技术 | 第29-34页 |
| ·传统三模冗余的不足 | 第29-30页 |
| ·时空三模冗余技术原理 | 第30-31页 |
| ·增强型时空三模冗余技术 | 第31-34页 |
| ·EDAC检错纠错码 | 第34-35页 |
| ·安全状态机 | 第35页 |
| ·Berber码 | 第35-36页 |
| ·控制流检测技术 | 第36-38页 |
| ·程序控制流图 | 第37页 |
| ·基本块签名 | 第37-38页 |
| 第四章 HR8051的可靠性增强实现 | 第38-45页 |
| ·HR8051寄存器的可靠性增强实现 | 第38-40页 |
| ·增强型时空三模冗余技术的实现过程 | 第38-39页 |
| ·复位信号 | 第39-40页 |
| ·控制器可靠性增强实现 | 第40-41页 |
| ·存储器的可靠性增强实现 | 第41-43页 |
| ·可配置EDAC编码器/译码器 | 第41页 |
| ·EDAC编码器/译码器与其它模块的交互 | 第41-43页 |
| ·ALU可靠性增强实现 | 第43-45页 |
| 第五章 RTL级HR8051可靠性评估 | 第45-51页 |
| ·故障注入环境 | 第45-47页 |
| ·单粒子翻转事件的特点 | 第45页 |
| ·故障注入过程 | 第45-47页 |
| ·故障结果分析 | 第47-51页 |
| ·故障持续时间对可靠性的影响 | 第47-48页 |
| ·反馈控制回路依赖关系对可靠性提高的影响 | 第48-49页 |
| ·单粒子翻转事件对存储器的影响 | 第49页 |
| ·时钟相位差对可靠性的影响 | 第49-50页 |
| ·可靠性总体故障注入结果 | 第50-51页 |
| 第六章 系统级HR8051可靠性评估初步研究 | 第51-72页 |
| ·系统级故障评估分析 | 第51-61页 |
| ·系统级故障统计 | 第51-52页 |
| ·基于断言的故障统计 | 第52页 |
| ·System Verilog断言支持 | 第52-54页 |
| ·串口0电路的系统级故障分析 | 第54-61页 |
| ·马尔科夫链分析 | 第61-72页 |
| ·基本可靠性的指标 | 第61页 |
| ·马尔科夫过程方法 | 第61-63页 |
| ·Markov链状态转移法的定量分析方法 | 第63-67页 |
| ·Markov链状态转移法的重要度分析 | 第67-68页 |
| ·功能单元Markov分析 | 第68-72页 |
| 第七章 总结 | 第72-74页 |
| ·完成的工作 | 第72页 |
| ·进一步的工作 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第78页 |
