中文摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-7页 |
第一章 射频识别技术综述 | 第7-13页 |
·本选题的背景及意义 | 第7-8页 |
·RFID射频识别技术的广泛应用 | 第8-9页 |
·国内外应用和研究情况 | 第9-12页 |
·本章小结及论文后续章节的内容 | 第12-13页 |
第二章 RFID的关键技术及标准 | 第13-24页 |
·RFID系统关键理论及技术 | 第13-16页 |
·电磁波及反射调制原理 | 第13-14页 |
·通讯编码及调制解调 | 第14页 |
·反碰撞算法 | 第14-16页 |
·RFID标准及ISO/IEC 18000 | 第16-18页 |
·ISO/IEC 18000-6 协议比较 | 第18-23页 |
·ISO/IEC 18000-6 Type A协议 | 第18-19页 |
·ISO/IEC 18000-6 Type B协议 | 第19-21页 |
·ISO/IEC 18000-6 Type C协议 | 第21-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第三章 基于Type B的RFID标签数字系统设计 | 第24-47页 |
·RFID系统组成 | 第24-29页 |
·射频模拟前端电路系统架构 | 第26-27页 |
·数字电路系统框架 | 第27-29页 |
·RFID标签数字系统各模块实现 | 第29-41页 |
·时钟同步模块 | 第29-35页 |
·指令处理模块 | 第35-38页 |
·读写模块 | 第38-39页 |
·数据反馈模块 | 第39-41页 |
·Type B标签与读卡器通信时序 | 第41-42页 |
·标签数字部分低功耗设计方法 | 第42-44页 |
·软件验证结果 | 第44-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
第四章 RFID芯片测试与综合 | 第47-65页 |
·验证开发平台及设计指标 | 第47-50页 |
·RFID标签系统验证开发平台 | 第47-48页 |
·Type B标签的主要设计指标 | 第48-50页 |
·具体测试过程及验证结果 | 第50-57页 |
·FPGA测试数字电路 | 第50-54页 |
·标签数字模拟联合调试及波形结果 | 第54-57页 |
·芯片综合 | 第57-64页 |
·综合意义及过程 | 第58-59页 |
·综合具体步骤 | 第59-61页 |
·综合中需要注意的情况 | 第61-62页 |
·综合结果 | 第62-64页 |
·本章小结 | 第64-65页 |
第五章 Type C协议标签数字部分时钟同步及防冲突实现 | 第65-82页 |
·Type C协议简介 | 第65-67页 |
·Type C协议时钟同步模块 | 第67-72页 |
·时钟恢复及数据判定 | 第67-70页 |
·Type C协议时钟同步仿真波形 | 第70-72页 |
·Type C协议防冲突的实现 | 第72-81页 |
·Type C协议防冲突及其算法 | 第72-76页 |
·Type C防冲突过程于指令中的实现 | 第76-79页 |
·Type C协议防冲突过程的实现及验证结果 | 第79-81页 |
·本章小结 | 第81-82页 |
第六章 总结 | 第82-84页 |
·全文总结 | 第82-83页 |
·后续工作与展望 | 第83-84页 |
参考文献 | 第84-87页 |
附录 英文缩略语表 | 第87-88页 |
发表论文和科研情况说明 | 第88-89页 |
致谢 | 第89页 |