基于紫外脉冲法的绝缘子放电检测的研究
| 摘要 | 第1页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·选题背景及其意义 | 第8-9页 |
| ·国内外绝缘子检测技术的研究现状 | 第9-13页 |
| ·电量检测法 | 第9-10页 |
| ·非电量检测法 | 第10-12页 |
| ·绝缘子污秽的预测 | 第12-13页 |
| ·本论文的主要工作 | 第13-14页 |
| 第二章 绝缘子表面放电理论与紫外光脉冲检测原理 | 第14-25页 |
| ·绝缘子表面气体放电理论与特性 | 第14-18页 |
| ·汤生电子崩理论 | 第14-15页 |
| ·流注理论 | 第15-17页 |
| ·绝缘子沿面放电分析 | 第17-18页 |
| ·紫外脉冲法检测绝缘子放电的原理 | 第18-24页 |
| ·绝缘子表面放电的光谱特性 | 第18-19页 |
| ·紫外光检测器件–光电倍增管 | 第19-24页 |
| ·光电倍增管的工作原理 | 第19-20页 |
| ·光电倍增管的类型 | 第20-22页 |
| ·光电倍增管的基本特性 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 绝缘子紫外脉冲检测系统的设计 | 第25-46页 |
| ·系统构成 | 第25-26页 |
| ·光-电转换模块 | 第26-31页 |
| ·R2078 日盲型光电倍增管 | 第26-27页 |
| ·高压模块和驱动电源 | 第27-29页 |
| ·分压电路 | 第29-31页 |
| ·电阻链的设计 | 第30页 |
| ·末极并联电容 | 第30-31页 |
| ·滤光系统 | 第31-32页 |
| ·放电定位模块 | 第32-34页 |
| ·紫外辐射的空间分布规律-琅伯余弦定律 | 第32-33页 |
| ·定位装置的实现 | 第33-34页 |
| ·前置信号调理模块 | 第34-35页 |
| ·I/U 转换 | 第34页 |
| ·脉冲信号的放大 | 第34-35页 |
| ·系统抗干扰和降噪措施 | 第35-36页 |
| ·系统软件的设计 | 第36-39页 |
| ·虚拟仪器简介 | 第36-37页 |
| ·采集模块的设计 | 第37-39页 |
| ·数据分析及显示 | 第39页 |
| ·紫外脉冲检测系统的测试 | 第39-45页 |
| ·距离对紫外脉冲输出的影响 | 第39-40页 |
| ·驱动电压对紫外脉冲输出的影响 | 第40-41页 |
| ·放电位置空间分辨率 | 第41页 |
| ·紫外光脉冲和电晕脉冲电流的相关性 | 第41-43页 |
| ·不同间隙下工频电压与紫外光脉冲个数的关系 | 第43-44页 |
| ·不同间隙下工频电压与紫外光脉冲最大幅值的关系 | 第44页 |
| ·结论 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 基于紫外脉冲的污秽绝缘子放电特性的研究 | 第46-61页 |
| ·复合绝缘子沿面放电紫外脉冲特性 | 第46-50页 |
| ·试验方法 | 第46-47页 |
| ·干燥条件下的沿面放电 | 第47-48页 |
| ·湿润条件下沿面放电 | 第48-50页 |
| ·瓷绝缘子沿面放电紫外光脉冲特性 | 第50-55页 |
| ·试品及涂污方式 | 第50页 |
| ·电压对绝缘子沿面放电紫外脉冲特性的影响 | 第50-53页 |
| ·不同盐密下绝缘子沿面放电的紫外脉冲特性 | 第53-55页 |
| ·紫外脉冲个数的变化 | 第53页 |
| ·紫外脉冲幅值的变化 | 第53-55页 |
| ·基于最小二乘支持向量机的绝缘子等值盐密的预测 | 第55-60页 |
| ·最小二乘支持向量机函数估计算法 | 第56-57页 |
| ·ESDD 预测模型的建立 | 第57-59页 |
| ·预测模型的训练 | 第59页 |
| ·预测结果与分析 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 结论与展望 | 第61-63页 |
| ·主要结论 | 第61-62页 |
| ·工作展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第67页 |
