| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-29页 |
| ·基本概念 | 第10-15页 |
| ·发光 | 第10页 |
| ·光致发光 | 第10页 |
| ·半导体的光吸收 | 第10-12页 |
| ·半导体发光 | 第12-13页 |
| ·半导体的复合 | 第13页 |
| ·晶体的光散射 | 第13-14页 |
| ·吸收光谱 | 第14页 |
| ·荧光光谱 | 第14-15页 |
| ·等离子体基本原理 | 第15页 |
| ·ZnO 的晶体结构 | 第15-16页 |
| ·ZnO 的基本性质 | 第16-18页 |
| ·ZnO 的光致发光机理研究 | 第18-20页 |
| ·ZnO 发光调制的物理机制的研究 | 第20-21页 |
| ·ZnO 研究中存在的问题 | 第21-22页 |
| ·本论文的主要研究工作 | 第22-23页 |
| 参考文献 | 第23-29页 |
| 第二章 ZnO 纳米结构薄膜的表征手段和原理 | 第29-37页 |
| ·X 射线衍射（XRD） | 第29-30页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第30-31页 |
| ·原子力显微镜(AFM) | 第31-32页 |
| ·紫外-可见-近红外分光光度计 | 第32-33页 |
| ·荧光光谱仪 | 第33页 |
| ·拉曼光谱分析 | 第33-35页 |
| 参考文献 | 第35-37页 |
| 第三章 局域表面等离子体对镀金的ZnO 薄膜光致发光性质的影响 | 第37-61页 |
| ·ZnO 薄膜的实验室制备 | 第38-41页 |
| ·衬底的清洗 | 第38-39页 |
| ·药品的称量 | 第39页 |
| ·药品和衬底的放置 | 第39页 |
| ·样品的制备 | 第39-40页 |
| ·实验参数的设置 | 第40-41页 |
| ·实验结果和讨论 | 第41-56页 |
| ·利用X 射线衍射仪测量ZnO 薄膜的晶体结构 | 第41-43页 |
| ·用扫描电子显微镜（SEM）对ZnO 薄膜的表面形貌的测量 | 第43-44页 |
| ·用原子力显微镜(AFM)对ZnO 薄膜的表面的粗糙度的测量 | 第44-45页 |
| ·未镀金的纯ZnO 薄膜的紫外-可见吸收光谱测量与分析 | 第45-49页 |
| ·ZnO 薄膜的光致发光谱 | 第49-56页 |
| 参考文献 | 第56-61页 |
| 第四章 不同ZnO 纳米结构膜的光致发光的表面等离子体修饰 | 第61-73页 |
| ·实验 | 第61-63页 |
| ·ZnO 纳米结构薄膜的制备 | 第61-62页 |
| ·ZnO 样品的性质的表征 | 第62-63页 |
| ·实验结果与讨论 | 第63-70页 |
| ·XRD 对晶体结构的测定结果 | 第63-64页 |
| ·SEM 测试的ZnO 的表面形貌 | 第64页 |
| ·ZnO 纳米结构膜的光致发光谱测量与分析 | 第64-67页 |
| ·镀Au 的ZnO 纳米结构膜的紫外-可见吸收光谱 | 第67-68页 |
| ·样品的拉曼光谱测试结果 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 第五章 工作总结 | 第73-75页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文的目录 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
