| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 文献综述 | 第13-29页 |
| 1.1 白光发光二极管 | 第13-16页 |
| 1.1.1 白光LED发光原理 | 第13-14页 |
| 1.1.2 白光LED应用现状 | 第14-16页 |
| 1.1.3 白光LED存在问题 | 第16页 |
| 1.2 白光LED用Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉 | 第16-22页 |
| 1.2.1 钇铝石榴石结构 | 第16-18页 |
| 1.2.2 稀土Ce的发光特性 | 第18-20页 |
| 1.2.3 荧光粉的常见制备方法 | 第20-22页 |
| 1.3Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉的热致光衰研究 | 第22-23页 |
| 1.3.1Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉的热致光衰研究现状 | 第22页 |
| 1.3.2Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉的热致光衰改善途径 | 第22-23页 |
| 1.4Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉的包覆改性研究 | 第23-26页 |
| 1.4.1 表面包覆作用 | 第23-24页 |
| 1.4.2 包覆膜层种类 | 第24-25页 |
| 1.4.3 荧光粉的表面包覆方法 | 第25-26页 |
| 1.5 本论文的目的与研究内容 | 第26-29页 |
| 第2章Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉的热致光衰机理研究 | 第29-43页 |
| 2.1 实验原料与仪器 | 第29-31页 |
| 2.1.1 实验原料 | 第29页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第29-30页 |
| 2.1.3 试验方法 | 第30-31页 |
| 2.2 表征测试方法 | 第31-33页 |
| 2.2.1 X射线衍射分析 | 第31页 |
| 2.2.2 发光性能分析 | 第31页 |
| 2.2.3 热释光谱分析 | 第31-32页 |
| 2.2.4 X射线光电子能谱分析 | 第32页 |
| 2.2.5 红外光谱分析 | 第32-33页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第33-41页 |
| 2.3.1 XRD分析 | 第33-34页 |
| 2.3.2 荧光光谱分析 | 第34-36页 |
| 2.3.3 热释光谱分析 | 第36-38页 |
| 2.3.4 XPS分析 | 第38-40页 |
| 2.3.5 红外光谱分析 | 第40-41页 |
| 2.3.6 热致光衰机理分析 | 第41页 |
| 2.4 本章小结 | 第41-43页 |
| 第3章Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉的包覆改性研究 | 第43-83页 |
| 3.1 实验原料与仪器 | 第43-44页 |
| 3.1.1 实验原料 | 第43-44页 |
| 3.1.2 实验仪器 | 第44页 |
| 3.2 表征与性能测试 | 第44-46页 |
| 3.2.1 扫描电镜分析 | 第44页 |
| 3.2.2 透射电镜分析 | 第44-45页 |
| 3.2.3 红外光谱分析 | 第45页 |
| 3.2.4 X射线衍射分析 | 第45页 |
| 3.2.5 热释光谱分析 | 第45页 |
| 3.2.6 发光性能测试 | 第45页 |
| 3.2.7 热稳定性测试 | 第45-46页 |
| 3.3Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉的SiO2 包覆 | 第46-60页 |
| 3.3.1 实验部分 | 第46-47页 |
| 3.3.2 SiO2 包覆原理 | 第47-49页 |
| 3.3.3 结果与表征 | 第49-60页 |
| 3.4Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉的Al2O3 包覆 | 第60-71页 |
| 3.4.1 实验部分 | 第60页 |
| 3.4.2 Al2O3 包覆原理 | 第60-61页 |
| 3.4.3 结果与表征 | 第61-71页 |
| 3.5Y_3Al_5O_(12):Ce~(3+)荧光粉的MgO包覆 | 第71-80页 |
| 3.5.1 实验部分 | 第71页 |
| 3.5.2 MgO包覆原理 | 第71-72页 |
| 3.5.3 结果与表征 | 第72-80页 |
| 3.6 包覆改性机理分析 | 第80-81页 |
| 3.7 本章小结 | 第81-83页 |
| 第4章 结论与展望 | 第83-85页 |
| 4.1 结论 | 第83-84页 |
| 4.2 展望 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-95页 |
| 攻读硕士期间已发表的论文 | 第95-97页 |
| 致谢 | 第97页 |
