| 摘要 | 第11-13页 |
| Abstract | 第13-15页 |
| 第一章 绪论 | 第16-26页 |
| 1.1 研究背景 | 第16-20页 |
| 1.2 BAM研究现状 | 第20-24页 |
| 1.2.1 BAM射频方案 | 第20-23页 |
| 1.2.2 BAM光学方案 | 第23-24页 |
| 1.3 论文的研究思路和主要内容 | 第24-26页 |
| 第二章 束流到达时间测量原理 | 第26-56页 |
| 2.1 BAM系统布局和工作原理 | 第26-28页 |
| 2.2 光学同步系统 | 第28-46页 |
| 2.2.1 正弦信号相位稳定性分析 | 第28-30页 |
| 2.2.2 相位不稳定性的分类 | 第30-32页 |
| 2.2.2.1 短期不稳定性和长期不稳定性 | 第30-31页 |
| 2.2.2.2 随机和系统不稳定性 | 第31页 |
| 2.2.2.3 绝对和相对稳定性 | 第31页 |
| 2.2.2.4 频率漂移和老化 | 第31-32页 |
| 2.2.3 相位不稳定性的表征 | 第32-33页 |
| 2.2.3.1 频域中的测量 | 第32-33页 |
| 2.2.3.2 相位抖动 | 第33页 |
| 2.2.4 射频时钟源 | 第33-41页 |
| 2.2.4.1 振荡器相位噪声 | 第34-35页 |
| 2.2.4.2 倍频器噪声 | 第35-36页 |
| 2.2.4.3 分频器噪声 | 第36页 |
| 2.2.2.4 锁相环噪声模型 | 第36-40页 |
| 2.2.4.5 放大器相位噪声 | 第40-41页 |
| 2.2.5 传输媒介引入的长期相位漂移 | 第41-43页 |
| 2.2.6 光学主振荡器 | 第43-46页 |
| 2.2.6.1 相位噪声测量 | 第44-46页 |
| 2.3 BAM信号耦合腔 | 第46-54页 |
| 2.3.1 运动带电粒子的电磁场 | 第46-48页 |
| 2.3.2 Button型信号耦合腔 | 第48-50页 |
| 2.3.3 Cavity型信号耦合腔 | 第50-54页 |
| 2.4 本章小结 | 第54-56页 |
| 第三章 BAM光学前端原型机的设计和实现 | 第56-74页 |
| 3.1 BAM射频前端 | 第56-58页 |
| 3.2 BAM电光前端布局 | 第58-70页 |
| 3.2.1 马赫-曾德尔型EOM | 第59-65页 |
| 3.2.2 BAM电光强度调制原理 | 第65-67页 |
| 3.2.3 温度控制管理 | 第67-70页 |
| 3.3 EOM性能参数测试 | 第70-73页 |
| 3.4 本章小结 | 第73-74页 |
| 第四章 BAM读出电子学原型机的设计和实现 | 第74-102页 |
| 4.1 BAM射频前端调理 | 第74-75页 |
| 4.2 高速高精度数据采集 | 第75-86页 |
| 4.2.1 ADC芯片功能评估 | 第76-80页 |
| 4.2.2 ADC采样时钟 | 第80-83页 |
| 4.2.3 ADC数字信号输出驱动电路 | 第83-86页 |
| 4.3 高性能FPGA数字信号处理 | 第86-98页 |
| 4.3.1 Kintex-7 系列的高性能FPGA | 第88-89页 |
| 4.3.2 DDR LVDS高速ADC接口 | 第89-93页 |
| 4.3.3 基于FIFO的异步跨时钟域设计 | 第93-96页 |
| 4.3.4 千兆以太网数据传输 | 第96-98页 |
| 4.4 基于BAM读出电子学的EOM传输曲线测试 | 第98-100页 |
| 4.5 本章小结 | 第100-102页 |
| 第五章 BAM系统性能测试与实现 | 第102-112页 |
| 5.1 BAM系统的幅度噪声探测精度 | 第102-106页 |
| 5.2 脉冲噪声引入的测量误差 | 第106-109页 |
| 5.3 束流测试计划及未来更高分辨率BAM的改进和发展方向 | 第109-111页 |
| 5.4 本章小结 | 第111-112页 |
| 第六章 总结与展望 | 第112-114页 |
| 参考文献 | 第114-122页 |
| 学术论文目录及会议交流情况 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124-125页 |