电离层中小尺度扰动的快速探测与分析
摘要 | 第7-8页 |
Abstract | 第8-9页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 电离层扰动的原因 | 第10页 |
1.2 研究背景及意义 | 第10-13页 |
1.3 本文的创新点 | 第13-14页 |
1.4 本文工作的动机和目的 | 第14-16页 |
第2章 PDI数字测高仪 | 第16-27页 |
2.1 样机系统简介 | 第16-17页 |
2.2 发射机设计方案 | 第17-19页 |
2.3 接收机设计方案 | 第19-21页 |
2.4 数据接收与处理系统设计方案 | 第21-26页 |
2.4.1 PICKUP软件简介 | 第22-24页 |
2.4.2 POLISH软件简介 | 第24-26页 |
2.5 本章小结 | 第26-27页 |
第3章 电离层扰动的数据处理和分析方法 | 第27-40页 |
3.1 利用多普勒频移研究电离层扰动 | 第27-29页 |
3.1.1 多普勒频移的概率密度分布仿真 | 第27-29页 |
3.1.2 仿真验证 | 第29页 |
3.2 高精度多普勒频移的时域获取方法 | 第29-32页 |
3.3 电子浓度等值面法向运动速度的反演 | 第32-37页 |
3.4 真高问题的讨论 | 第37-39页 |
3.5 本章小结 | 第39-40页 |
第4章 电离层中小尺度扰动的实验分析与诊断 | 第40-51页 |
4.1 电离层扰动的多普勒分析 | 第40-43页 |
4.2 扰动尺度的提取与诊断 | 第43-45页 |
4.3 扰动速度和反演方法的分析与讨论 | 第45-50页 |
4.4 本章小结 | 第50-51页 |
第5章 非单一电离层扰动场的参数提取 | 第51-57页 |
5.1 扰动场的数学模型 | 第51-52页 |
5.2 参数提取方法及实验分析 | 第52-55页 |
5.2.1 多通道最大熵谱分析法原理 | 第52页 |
5.2.2 V(h)剖面的参数提取及讨论 | 第52-55页 |
5.3 本章小结 | 第55-57页 |
第6章 总结与展望 | 第57-59页 |
6.1 工作总结 | 第57-58页 |
6.2 展望 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-62页 |
攻读学位期间发表的论文 | 第62-63页 |
致谢 | 第63页 |