| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 Cu_2O的基本性质及其探测器的研究进展 | 第9-15页 |
| 1.2.1 Cu_2O薄膜的结构与性质 | 第9-10页 |
| 1.2.2 Cu_2O薄膜的制备方法 | 第10-12页 |
| 1.2.3 Cu_2O探测器的研究进展 | 第12-15页 |
| 1.3 金属纳米粒子表面等离子共振特性及应用 | 第15-19页 |
| 1.3.1 金属纳米粒子表面等离子共振特性 | 第15-17页 |
| 1.3.2 金属纳米粒子表面等离子体应用 | 第17-19页 |
| 1.4 本论文选题依据和主要研究内容 | 第19-21页 |
| 第二章 样品的制备技术与表征手段 | 第21-26页 |
| 2.1 电化学沉积技术 | 第21-22页 |
| 2.1.1 电化学沉积技术的原理 | 第21-22页 |
| 2.1.2 电化学沉积技术的特点 | 第22页 |
| 2.2 样品的表征手段 | 第22-25页 |
| 2.2.1 紫外-可见吸收光谱 | 第22-23页 |
| 2.2.2 X射线衍射技术 | 第23-24页 |
| 2.2.3 扫描电子显微镜 | 第24页 |
| 2.2.4 光响应测试 | 第24页 |
| 2.2.5 I-V特性曲线 | 第24-25页 |
| 2.3 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 Cu_2O基光探测器的制备及其光电特性分析 | 第26-40页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 Cu_2O薄膜电化学沉积生长过程 | 第26-28页 |
| 3.2.1 Cu_2O薄膜的实验条件 | 第26-28页 |
| 3.2.2 Cu_2O薄膜的制备过程 | 第28页 |
| 3.3 Cu_2O薄膜的物理性质研究 | 第28-32页 |
| 3.3.1 紫外-可见吸收光谱分析 | 第28-30页 |
| 3.3.2 X射线衍射测试分析 | 第30-32页 |
| 3.4 Cu_2O基光探测器的制备 | 第32-34页 |
| 3.4.1 Cu_2O/ZnO异质结的实验条件 | 第32-33页 |
| 3.4.2 Cu_2O/ZnO异质结的制备过程 | 第33-34页 |
| 3.5 Cu_2O基光探测器光电特性分析 | 第34-38页 |
| 3.5.1 扫描电子显微镜分析 | 第34-35页 |
| 3.5.2 Cu_2O/ZnO薄膜的吸收特性 | 第35页 |
| 3.5.3 X射线衍射测试分析 | 第35-36页 |
| 3.5.4 I-V特性曲线分析 | 第36-37页 |
| 3.5.5 光响应度测量分析 | 第37-38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 Ag纳米颗粒修饰的Cu_2O基光探测器制备及其光电特性分析 | 第40-53页 |
| 4.1 引言 | 第40页 |
| 4.2 Ag纳米粒子的制备及表面等离子体特性研究 | 第40-48页 |
| 4.2.1 FDTD对不同Ag粒子尺寸消光峰位模拟 | 第40-42页 |
| 4.2.2 Ag纳米粒子的制备及吸收特性研究 | 第42-48页 |
| 4.3 Ag纳米粒子修饰的Cu_2O基光探测器 | 第48-52页 |
| 4.3.1 Cu_2O/Ag/ZnO探测器的制备 | 第48-49页 |
| 4.3.2 Cu_2O/Ag/ZnO探测器性能表征 | 第49-52页 |
| 4.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 硕士期间论文发表情况 | 第60页 |
